Поисковый запрос: (<.>K=растровая электронная микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5 |
1. 
|
Вид документа : Статья из сборника (том многотомника)
Шифр издания : 62/Н 34
Автор(ы) : Уртминцева А. С., Шепелева А. А.
Заглавие : Растровая электронная микроскопия
Место публикации : Научному прогрессу - творчество молодых : материалы XII международной молодежной научной конференции по естественнонаучным и техническим дисциплинам (Йошкар-Ола, 21-22 апреля 2017 г.) : в 4 ч./ [редкол.: Д. В. Иванов и др.] ; М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т", Центр фундам. образования. - Йошкар-Ола: ПГТУ, 2017. - Ч. 2. - С. 65-66. - (Материаловедение и технология машиностроения). - кнхр
Примечания : Библиогр.: с. 66 (1 назв.)
УДК : 62
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): труды пгту--международные конференции--студенческие конференции--растровая электронная микроскопия--электронно-зондовый микроанализ
Экземпляры : кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор)
Заглавие : Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: Formation of the conducting phase concentration profile in the process of thick-film resistive element heat treatment
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 5 (24). - С. 72-76: 6 рис., 1 табл.
Примечания : Библиогр.: с. 76 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оже-спектроскопия--вжигание--диоксиды рутения--концентрационные профили--оптическая электронная микроскопия--процессы термообработки--растровая электронная микроскопия--резистивные материалы--рентгеновский микроанализ--сопротивление растекания контактов--термоактивационная проводимость--токопроводящие фазы--толстопленочные резистивные элементы--точечные контакты--экспериментальные исследования--электропроводность--пгту в печати
Аннотация: Приводятся результаты исследований распределения содержания токопроводящей фазы, а также распределения электропроводности в объеме резистивного элемента в результате термической обработки.
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Измерение линейных размеров кремниевых элементов нанорельефа с профилем, близким к прямоугольному методом дефокусировки электронного зонда РЭМ
Серия: Нанометрология
Место публикации : Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 6. - С. 420-425: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 425(3 назв.)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевая технология(развитие)--растровая электронная микроскопия--наноструктуры (электронно-микроскопические исследования)
Аннотация: На РЭМ исследованы одиночные кремниевые элементы нанорельефа с разной шириной.
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385
Заглавие : Электронно-зондовая неразрушающая бесконтактная диагностика приборных структур микроэлектроники
Серия: Динамика микро- и наноструктур
Место публикации : Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 5. - С. 327-336
Примечания : Библиогр.: с. 336 (14 назв.)
УДК : 621.385
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): неразрушающий контроль--электронный микроскоп--растровая электронная микроскопия--микротомография
Аннотация: Описан электронно-зондовый диагностический комплекс на базе растрового электронного микроскопа. позволяющий бесконтактным неразрушающим способом исследовать строение и архитектуру трехмерных приборных структур микроэлектроники.
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 548.4:539.27
Автор(ы) : Якимов Е.Б.
Заглавие : Определение локальных электрических параметров полупроводниковых материалов методами растровой электронной микроскопии
Место публикации : Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2002. - N2. - С. 63-69
УДК : 548.4:539.27
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия(растровая)--полупроводниковые материалы(определение локальных электрических параметров)--растровая электронная микроскопия
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный