Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (41)Полные тексты изданий ПГТУ (4)Авторефераты и диссертации (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=пленки<.>)
Общее количество найденных документов : 125
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-120      
1.


    Заяц, И. М.
    Клеевая композиция для склеивания поливинилхлоридной пленки с древесностружечной плитой [Текст] / И.М.Заяц,А.С.Кушпит // Сб.науч.тр./Нац.АН Белоруси.Ин-т леса. - Гомель, 1997. - Вып. - Лесная наука на рубеже XXI века.-С.339-341. - (Механизация лесного хозяйства.Деревообработка и лесохимия)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Поливинилхлоридные пленки(облицовочный материал) -- Облицовывание древесных материалов ПВХ пленками
Доп.точки доступа:
Кушпит, А.С.


Найти похожие

2.


    Ананьин, Н. С.
    Получение износостойкого покрытия на титановых сплавах методом оксидирования, совмещенного со старением [Текст] / Ананьин Н.С., Полянский В.М. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 1998. - N2.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Пленки оксидные -- Покрытия износостойкие
Аннотация: Цель данной работы - изыскание условий получения оксидных покрытий с высокими триботехническими свойствами при термических режимах старения высокопрочных (a+b)-сплавов титана и изучение свойств оптимального покрытия.
Доп.точки доступа:
Полянский, В.М.


Найти похожие

3.


    Сокол, В. А.
    Легированные редкоземельными металлами диэлектрические пленки в МДМ-структурах [Текст] / В.А.Сокол,М.М.Пинаева,Е.А.Гурская // Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - 6.-С.454-456.-Библиогр.:13 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Пленки диэлектрические легированные(термостабильность,прочность) -- Конденсаторы тонкопленочные(электрофизические характеристики) -- Пленки анодные оксидные(повышение микротвердости)
Доп.точки доступа:
Пинаева, Н.Н.
Гурская, Е.А.


Найти похожие

4.


   
    Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А,(111)В [Текст] / Г. Б. Галиев и [др.] // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1360-1361.-Библиогр.:13 назв. - (Наноэлектроника)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Эпитаксия молекулярно-лучевая(особенности) -- Эпитаксиальные пленки(исследование структурных свойств) -- Эпитаксиальные пленки(исследования формы спектров люминесценции) -- Подложки(110),(111)А,(111)В(эпитаксиальных пленок)
Доп.точки доступа:
Галиев, Г.Б.
Мокеров, В.Г.
Волков, В.Ю.
Имамов, Р.М.
Слепнев, Ю.В.
Хабаров, Ю.В.


Найти похожие

5.


   
    Современные материалы в технологии ЭВП [Текст] / О. М. Стасова и [др.] // Зарубежная электронная техника. - 1999. - N2. - С. 44-63. - (Новости номера)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Электровакуумные приборы(новые материалы,внедрение) -- Пленки алмазоподобные(материалы ЭВП) -- Материалы керамические(ЭВП) -- Графит пирометический(материалы ЭВП) -- Магниты редкоземельные(материалы ЭВП)
Доп.точки доступа:
Стасова, О.М.
Симонова, А.М.
Гузенкова, Н.Д.
Шорохова, А.Г.


Найти похожие

6.


    Ляпунов, А. И.
    Методика определения физико-химического состояния окисной пленки на сталях и сплавах при воздействии высоких температур [Текст] / Ляпунов А.И., Алексеев Л.А. // Материаловедение. - 1999. - N1.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Пленка окисная(физико-химическое состояние) -- Окисная пленка на сталях и сплавах -- Методика оценки жаростойкости металлических материалов
Доп.точки доступа:
Алексеев, Л.А.


Найти похожие

7.


    Курочкина, Г. Н.
    Кинетика формирования и свойства фазовых гидратных пленок на поверхности безводных почвенных минеральных компонентов [Текст] / Г. Н. Курочкина, О. А. Соколов // Почвоведение. - 1999. - N7. - 841-849.-Библиогр.:9 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Почвы(гидратные пленки) -- Гидратные пленки почв(свойства)
Доп.точки доступа:
Соколов, О.А.


Найти похожие

8.


   
    Анализ распределения интенсивности отраженного пучка в схеме призменного возбуждения диэлектрических волноводов [Текст] / А.Б.Сотский,А.А.Романенко,А.В.Хомченко,И.У.Примак // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 6.-С.687-695.-Библиогр.:18 назв. - (Электродинамика и распространение радиоволн)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Волноводы диэлектрические(анализ отраженного пучка) -- Волноведущие пленки(задачи восстановления параметров)
Доп.точки доступа:
Сотский, А.Б.
Романенко, А.А.
Хомченко, А.В.
Примак, И.У.


Найти похожие

9.


    Сушенцов, Н. И.
    Перспективы применения несбалансированного вч-магнетронного распыления для получения и легирования пленок AlN в процессе выращивания [Текст] / Сушенцов Н.И., Одинцов М.А. // Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 24. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК
Доп.точки доступа:
Одинцов, М.А.


Найти похожие

10.


   
    Высокоскоростной метод осаждения аморфного кремния [Текст] / Б.Г.Будагян,А.А.Шершенков,А.Е.Бердников,В.Д.Черномордик В.Д. // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 6.-С.442-448.-Библиогр.:11 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Аморфный кремний(осаждение) -- Пленки аморфного кремния(свойства) -- Гетероструктуры(изготовление) -- Высокоскоростного осаждения a-Si метод
Доп.точки доступа:
Будагян, Б.Г.
Шерченков, А.А.
Бердников, А.Е.
Черномордик, В.Д.


Найти похожие

11.


   
    Формирование локальных диэлектрических областей в Si-Si/Ge-структурах имплантацией и последующим неоднородным химическим травлением [Текст] / В. В. Старков и [др.] // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 5.-С.333-338.-Библиогр.:12 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Интегральные микросхемы(изоляция элементов) -- Аморфные пористые пленки -- Неоднородное химическое травление -- Диэлектрические области локальные(формирование)
Доп.точки доступа:
Старков, В.В.
Старостина, Е.А.
Вяткин, А.Ф.
Горбатов, Ю.Б.


Найти похожие

12.


   
    Об экспериментальных возможностях получения алмазных пленок со структурой квазикристалла [Текст] / М. И. Самойлович и [др.] // Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ. науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г. - Йошкар-Ола, 2000. - 22.-Библиогр.:5 назв. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК
Доп.точки доступа:
Самойлович, М.И.
Талис, А.Л.
Миронов, М.И.
Сушенцов, Н.И.


Найти похожие

13.


    Павлов, Е. П.
    Кафедре конструирования и производства радиоэлектронной аппаратуры-25 лет [Текст] / Павлов Е.П. // Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г./МарГТУ. - 2000. - С. 13
УДК


Найти похожие

14.


    Сушенцов, Н. И.
    Установка магнетронного распыления, совмещенная с ионнолучевым травлением [Текст] / Н. И. Сушенцов, А. В. Михеев, А. В. Ермолаев // Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ. науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 15. - (Конструирование оборудования для получения и обработки тонких пленок)
УДК
Доп.точки доступа:
Михеев, А.В.
Ермолаев, А.В.


Найти похожие

15.


    Сычев, А. Н.
    Использование оптически неоднородных грунтовочных составов при отделке хвойной древесины [Текст] / А.Н.Сычев,А.В.Мелешко,В.И.Силантьев // Химико-лесной комплекс - научное и кадровое обеспечение в XXIвеке.Проблемы и решения:сб.ст.междунар.науч.-практ.конф.19-20окт. - Красноярск, 2000. - С. 191

Кл.слова (ненормированные):
Древесина хвойная(отделка,составы неоднородные грунтовочные) -- Покрытия лакокрасочные(отделка древесины хвойной) -- Лакокрасочные покрытия(отделка хвойной древесины) -- Полимерные пленки(отделка хвойной древесины) -- Пленки полимерные(отделка хвойной древесины) -- Хвойная древесина(отделка, составы неоднородные грунтовочные)
Доп.точки доступа:
Мелешко, А.В.
Силантьев, В.И.


Найти похожие

16.


    Михеева, Е. В.
    Структурные схемы факторов дефектности МКК,МКП [Текст] / Е. В. Михеева, И. В. Таланцев, Н. М. Скулкин // Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 августа 2000 г./МарГТУ. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 49. - (Формирование и обработка материалов на различных этапах изготовления изделий электронной техники)
УДК
Доп.точки доступа:
Таланцев, И.В.
Скулкин, Н.М.


Найти похожие

17.


    Мордвинцев, В. М.
    Исследование процессов формирования пленок окисла нанометровой толщины электрохимическим анодированием кремния [Текст] / Мордвинцев В.М., Муравьева Н.Л. // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 3.-С.177-188.-Библиогр.:13 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Электрохимического анодирования кремния процесс -- Пленки окисла нанометровой толщины(формирование)
Доп.точки доступа:
Муравьева, Н.Л.


Найти похожие

18.


    Черпак, Н. Т.
    Высокотемпературные сверхпроводники в микроволновой технике [Текст] / Черпак Н.Т., Величко А.В. // Зарубежная радиоэлектроника.Успехи современной радиоэлектроники. - 2000. - N4. - 3-48.-Библиогр.:163 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Антенные системы(сверхпроводники) -- Гибридные устройства(сверхпроводники) -- Генераторы высокостабильные -- Микроволновая электродинамика ВТСП -- ВТСП-устройства(достоинства) -- ВТСП-пленки(нелинейные свойства) -- Микроволновые системы и подсистемы(создание) -- Сверхпроводники высокотемпературные(в микроволновой технике) -- Микроволновые устройства пассивные(создание) -- Линии передачи(сверхпроводники) -- Резонаторы -- Фильтры -- Мультиплексоры -- Фазовращатели -- Переключатели и ограничители
Доп.точки доступа:
Величко, А.В.


Найти похожие

19.


    Сушенцов, Н. И.
    Ультразвуковая очистка изделий перед вакуумным покрытием [Текст] / Сушенцов Н.И., Гаязов И.М. // Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 августа 2000 г./МарГТУ. - 2000. - С. 42. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК
Доп.точки доступа:
Гаязов, И.М.


Найти похожие

20.


    Мансфельд, Г. Д.
    Радиоспектроскопия акустических свойств тонких слоев и пленок [Текст] / Мансфельд Г.Д. // Радиотехника. - 2000. - N8. - 29-36.-Библиогр.:12 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Радиоспектроскопия -- Акустические свойства твердых тел -- Тонкие слои(акустические свойства) -- Тонкие пленки(акустические свойства) -- Акустический резонатор -- Резонансные пики -- Коэффициент поглощения волн -- Акустические волны(измерение скорости)

Найти похожие

 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-120      
 
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 56871
Число посетителей 864
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».