Поисковый запрос: (<.>K=микроэлектроника<.>) |
Общее количество найденных документов : 307
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Крылов Е. С. Разработка инфракрасного пирометра для контроля температуры в вакуумных установках/Е. С. Крылов ; науч. рук. В. Н. Леухин // Инженерные кадры - будущее инновационной экономики России. -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2018,N Ч. 4:Информационные технологии - основа стратегического прорыва в современной промышленности.-С.68-71
|
2.
| Соломин А.Г. Графеновые наноструктуры/А. Г. Соломин ; науч. рук. В. Л. Фоминых // Научному прогрессу - творчество молодых. -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2012,N Ч. 1.-С.186-187
|
3.
| Кулишова Н. Завод - его счастливая судьба/Н. Кулишова // Марийская правда, 2017,N 23 июня (№ 46).-С.12
|
4.
| Ефимов А. С. Влияние времени экспонирования на качество рисунка при фотолитографии/А. С. Ефимов ; науч. рук.: М. В. Шарова, А. В. Мороз // Мой первый шаг в науку. -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2016,N Ч. 1:Фундаментальные науки. Информатика. Техника.-С.135-136
|
5.
| Васильев А. Ю. Лазерная обработка керамических и ситалловых подложек с использованием YAG- излучателей/А. Ю. Васильев // Человек, общество, природа в эпоху глобальных трансформаций: безопасность и развитие. Семнадцатые Вавиловские чтения. -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2014,N Ч. 2.-С.305-306
|
6.
| Бадуртдинова Г.М. О потенциале информационных технологий в строительстве/Г. М. Бадуртдинова ; науч. рук. Г. М. Пурынычева // Техника в современном научном дискурсе. -Йошкар-Ола:ПГТУ , 2013.-С.107-109
|
7.
| Бастраков А.А. Изготовление ПАВ устройств на основе ZnO для обработки информации/А. А. Бастраков ; науч. рук. Н. И. Сушенцов // Научному прогрессу - творчество молодых. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2010,N Ч. 2.-С.201-203
|
8.
| Исследование методов калибровки процессных ОРС моделей VT-5 с переменным порогом чувствительности // Микроэлектроника, 2010. т.Т. 39,N N 6.-С.468-480
|
9.
| Кузнецов Г. В. О возможности регулирования тепловых режимов типичного элемента радиоэлектронной аппаратуры или электронной техники с локальным источником тепла за счет естественной конвекции/Г. В. Кузнецов, М. А. Шеремет // Микроэлектроника, 2010. т.Т. 39,N N 6.-С.452-467
|
10.
| Измерение линейных размеров кремниевых элементов нанорельефа с профилем, близким к прямоугольному методом дефокусировки электронного зонда РЭМ // Микроэлектроника, 2010. т.Т. 39,N N 6.-С.420-425
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный