Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (29)Полные тексты изданий ПГТУ (6)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Байдин Г. С. (преподаватель), Титов А. С.
Заглавие : Автоматизация подсчета количества частиц на наномасштабных изображениях электронного микроскопа
Разночтения заглавия :: The method of automation particles counting on a nanoscale image captured by the electron microscope
Место публикации : Биомедицинская радиоэлектроника. - 2020. - № 5. - С. 59-71: 7 рис.
Примечания : Библиогр.: с. 68-69 (19 назв.). - Реф. на англ. яз.
ISSN: 1560-4136
Предметные рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Медицинская радиология и рентгенология
Прикладные отрасли медицины в целом
Радиоэлектроника
Электроника в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоматизированный подсчет количества частиц--кластеризация--наноизмерения--наномасштабные изображения--сегментация--электронные микроскопы
Аннотация: Разработана методика автоматизированного подсчета количества частиц в веществе на изображениях электронного микроскопа.
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 537
Автор(ы) : Фишер Х.
Заглавие : Комбинация взаимодополняющих технологий в микроскопии
Серия: Контроль и измерения
Место публикации : Наноиндустрия. - 2010. - N 4. - С. 50-52
УДК : 537
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы атомные силовые для нанотехнологий--микроскопические объекты (квантовое поведение)--трехмерные изображения (анализ, обработка)
Аннотация: Описан метод комбинационное (рамановское) рассеяние, которое позволяет исследовать структурные и химические трехмерные изображения образцов с разрешением в субмикронном диапазоне.
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.9.048
Автор(ы) : Бесогонов В.В., Скворцова И.Н.
Заглавие : Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
УДК : 621.9.048
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктура--зондовая микроскопия--микроскопы туннельные сканирующие (свойства микроконтактов)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : ХХ!- век нано
Место публикации : Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующей электронной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--нанотрубки--производство наноэлектроники
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53:69
Автор(ы) : Родионов Б.Н.
Заглавие : Инструменты для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
УДК : 53:69
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Аннотация: Электронные микроскопы
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53
Автор(ы) : Новиков Ю.А.
Заглавие : Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии
Место публикации : Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - С. 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
УДК : 53
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанокристаллические ферромагнетики--сканирующей туннельной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 62.002:681.7
Автор(ы) : Родионов Б.Н.
Заглавие : Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы, оборудование, технологии ХХI века. - 2008. - N 9. - С. 78 - 81
УДК : 62.002:681.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии (сканирующие оптические микроскопы ближнего поля, применение)--сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий--оптические сканирующие микроскопы ближнего поля для нанотехнологий--микроскопы сканирующие оптические ближнего поля для нанотехнологий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 62.002
Автор(ы) : Родионов Б. Н.
Заглавие : Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы,оборудование,технологии ХХI в. - 2008. - N 8. - С. 46 - 47
УДК : 62.002
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии (атомные силовые микроскопы,использование)--атомные силовые микроскопы для нанотехнологий--микроскопы атомные силовые для нанотехнологий--силовые атомные микроскопы для нанотехнологий--инструменты для нанотехнологий--нанотехнологии (инструменты,использование)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 615.47
Автор(ы) : Медовый В. С., Парпара А.А.
Заглавие : Состав оборудования и системная платформа комплексов автоматизированной микроскопии
Место публикации : Медицинская техника. - 2007. - N 2. - С. 29-36.-Библиогр.:30 назв.
Примечания : Качество изображения в оптико-электронном тракте
УДК : 615.47
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биомедицинские изображения--среда idl--система сбора, обработки--биомедицинская информация--микроскопы туннельные сканирующие--свойства микроконтактов
Аннотация: Комплекс автоматизированной микроскопии.
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 62/Н 34
Автор(ы) : Юшкова Н.А.
Заглавие : Анализ субъективной погрешности при измерении твердости по методу Бринелля
Место публикации : Научному прогрессу - творчество молодых: сб. материалов Всерос. науч. студен. конф. по естественно- науч. и техн. дисциплинам, 20-21 апреля 2007 г./ [редкол.: Иванов В. А. и др.]. - Йошкар-Ола: МарГТУ, 2007. - С. 113. - (75 лет МарГТУ). - 639635 кнхр
УДК : 62
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): порошковые материалы (качество)--микроскопы (виды)--инструментальный микроскоп--метод бринелля (измерение твердости)--труды маргту
Экземпляры :639635 кнхр(1)
Свободны : 639635 кнхр(1)
Найти похожие

 1-10    11-12 
 
Статистика
за 19.08.2024
Число запросов 58492
Число посетителей 570
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».