Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Байдин Г. С. (преподаватель), Титов А. С.
Заглавие : Автоматизация подсчета количества частиц на наномасштабных изображениях электронного микроскопа
Разночтения заглавия :: The method of automation particles counting on a nanoscale image captured by the electron microscope
Место публикации : Биомедицинская радиоэлектроника. - 2020. - № 5. - С. 59-71: 7 рис.
Примечания : Библиогр.: с. 68-69 (19 назв.). - Реф. на англ. яз.
ISSN: 1560-4136
Предметные рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Медицинская радиология и рентгенология
Прикладные отрасли медицины в целом
Радиоэлектроника
Электроника в целом
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоматизированный подсчет количества частиц--кластеризация--наноизмерения--наномасштабные изображения--сегментация--электронные микроскопы
Аннотация: Разработана методика автоматизированного подсчета количества частиц в веществе на изображениях электронного микроскопа.
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.9.048
Автор(ы) : Бесогонов В.В., Скворцова И.Н.
Заглавие : Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
УДК : 621.9.048
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктура--зондовая микроскопия--микроскопы туннельные сканирующие (свойства микроконтактов)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Волков А.Б., Неволин В.К.
Заглавие : Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства)--зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 615.47
Автор(ы) : Медовый В. С., Парпара А.А.
Заглавие : Состав оборудования и системная платформа комплексов автоматизированной микроскопии
Место публикации : Медицинская техника. - 2007. - N 2. - С. 29-36.-Библиогр.:30 назв.
Примечания : Качество изображения в оптико-электронном тракте
УДК : 615.47
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биомедицинские изображения--среда idl--система сбора, обработки--биомедицинская информация--микроскопы туннельные сканирующие--свойства микроконтактов
Аннотация: Комплекс автоматизированной микроскопии.
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53
Автор(ы) : Новиков Ю.А.
Заглавие : Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии
Место публикации : Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - С. 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
УДК : 53
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанокристаллические ферромагнетики--сканирующей туннельной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 539.1.38
Автор(ы) : Петров А.Б., Галлямов Р.Р.
Заглавие : Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 3.-С.190-197.
УДК : 539.1.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--атомно-силовая микроскопия--тонкие пленки(контроль качества)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 62.002
Автор(ы) : Родионов Б. Н.
Заглавие : Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы,оборудование,технологии ХХI в. - 2008. - N 8. - С. 46 - 47
УДК : 62.002
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии (атомные силовые микроскопы,использование)--атомные силовые микроскопы для нанотехнологий--микроскопы атомные силовые для нанотехнологий--силовые атомные микроскопы для нанотехнологий--инструменты для нанотехнологий--нанотехнологии (инструменты,использование)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53:69
Автор(ы) : Родионов Б.Н.
Заглавие : Инструменты для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
УДК : 53:69
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Аннотация: Электронные микроскопы
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 62.002:681.7
Автор(ы) : Родионов Б.Н.
Заглавие : Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий
Место публикации : Строительные материалы, оборудование, технологии ХХI века. - 2008. - N 9. - С. 78 - 81
УДК : 62.002:681.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии (сканирующие оптические микроскопы ближнего поля, применение)--сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий--оптические сканирующие микроскопы ближнего поля для нанотехнологий--микроскопы сканирующие оптические ближнего поля для нанотехнологий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 537
Автор(ы) : Фишер Х.
Заглавие : Комбинация взаимодополняющих технологий в микроскопии
Серия: Контроль и измерения
Место публикации : Наноиндустрия. - 2010. - N 4. - С. 50-52
УДК : 537
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы атомные силовые для нанотехнологий--микроскопические объекты (квантовое поведение)--трехмерные изображения (анализ, обработка)
Аннотация: Описан метод комбинационное (рамановское) рассеяние, которое позволяет исследовать структурные и химические трехмерные изображения образцов с разрешением в субмикронном диапазоне.
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный