Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10 |
|
>1.
|
Байдин, Г. С. (преподаватель). Автоматизация подсчета количества частиц на наномасштабных изображениях электронного микроскопа [Текст] / Г. С. Байдин, А. С. Титов> // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2020. - № 5. - С. 59-71 : 7 рис. - Библиогр.: с. 68-69 (19 назв.). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Медицинская радиология и рентгенология
Прикладные отрасли медицины в целом
Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные): автоматизированный подсчет количества частиц -- кластеризация -- наноизмерения -- наномасштабные изображения -- сегментация -- электронные микроскопы Аннотация: Разработана методика автоматизированного подсчета количества частиц в веществе на изображениях электронного микроскопа.
Доп.точки доступа: Титов, А. С. (студент)
Найти похожие
|
>2.
|
Фишер, Х. Комбинация взаимодополняющих технологий в микроскопии [Текст] / Х. Фишер> // Наноиндустрия. - 2010. - N 4. - С. 50-52
Кл.слова (ненормированные): МИКРОСКОПЫ АТОМНЫЕ СИЛОВЫЕ ДЛЯ НАНОТЕХНОЛОГИЙ -- МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ОБЪЕКТЫ (КВАНТОВОЕ ПОВЕДЕНИЕ) -- ТРЕХМЕРНЫЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ (АНАЛИЗ, ОБРАБОТКА) Аннотация: Описан метод комбинационное (рамановское) рассеяние, которое позволяет исследовать структурные и химические трехмерные изображения образцов с разрешением в субмикронном диапазоне.
Найти похожие
|
>3.
|
Бесогонов, В. В. Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений [Текст] / В. В. Бесогонов, И. Н. Скворцова> // Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
Кл.слова (ненормированные): НАНОСТРУКТУРА -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПЫ ТУННЕЛЬНЫЕ СКАНИРУЮЩИЕ (СВОЙСТВА МИКРОКОНТАКТОВ)
Доп.точки доступа: Скворцова, И.Н.
Найти похожие
|
>4.
|
Родионов, Б. Н. Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов> // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХI века. - 2008. - N 9. - С. 78 - 81
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии (сканирующие оптические микроскопы ближнего поля, применение) -- Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий -- Оптические сканирующие микроскопы ближнего поля для нанотехнологий -- Микроскопы сканирующие оптические ближнего поля для нанотехнологий
Найти похожие
|
>5.
|
Родионов, Б. Н. Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий [Текст] / Б. Н. Родионов> // Строительные материалы,оборудование,технологии ХХI в. - 2008. - N 8. - С. 46 - 47
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии (атомные силовые микроскопы,использование) -- Атомные силовые микроскопы для нанотехнологий -- Микроскопы атомные силовые для нанотехнологий -- Силовые атомные микроскопы для нанотехнологий -- Инструменты для нанотехнологий -- Нанотехнологии (инструменты,использование)
Найти похожие
|
>6.
|
Новиков, Ю. А. Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / Новиков, Ю.А.> // Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
Кл.слова (ненормированные): Нанокристаллические ферромагнетики -- Сканирующей туннельной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Найти похожие
|
>7.
|
ХХ!- век нано [Текст] > // Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
Кл.слова (ненормированные): Сканирующей электронной микроскопии метод -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Нанотрубки -- Производство наноэлектроники
Найти похожие
|
>8.
|
Родионов, Б. Н. Инструменты для нанотехнологий [Текст] / Б.Н.Родионов> // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века. - 2008. - N4. - С. 68-70
Кл.слова (ненормированные): Нанотехнологии -- Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) Аннотация: Электронные микроскопы
Найти похожие
|
>9.
|
Петров, А. Б. Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме [Текст] / А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов> // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 3.-С.190-197.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Атомно-силовая микроскопия -- Тонкие пленки(контроль качества)
Доп.точки доступа: Галлямов, Р.Р.
Найти похожие
|
>10.
|
Волков, А. Б. Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом [Текст] / Волков А.Б., Неволин В.К.> // Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - 11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв. - (Физические процессы в электронных приборах)
Кл.слова (ненормированные): Микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов) -- Микроконтакты точечные туннельных зондов(свойства) -- Зонды туннельные(свойства микроконтактов)
Доп.точки доступа: Неволин, В.К.
Найти похожие
|
|
|