Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Бесогонов В.В. Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений/В. В. Бесогонов, И. Н. Скворцова // Известия вузов. Приборостроение, 2009. т.№9.-С.72-76
|
2.
| Фишер Х. Комбинация взаимодополняющих технологий в микроскопии/Х. Фишер // Наноиндустрия, 2010,N N 4.-С.50-52
|
3.
| Юшкова Н.А. Анализ субъективной погрешности при измерении твердости по методу Бринелля/Н. А. Юшкова ; науч. рук. В. М. Бастраков // Научному прогрессу - творчество молодых. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2007.-С.113
|
4.
| Петров А.Б. Измерение деформации поверхности полимеров при сканировании на атомном силовом микроскопе в полуконтактном режиме/А.Б.Петров,Р.Р.Галлямов // Микроэлектроника, 2007,N Т.3.-С.3.-С.190-197.
|
5.
| Родионов Б.Н. Инструменты для нанотехнологий/Б.Н.Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХ! века, 2008,N N4..-С.68-70
|
6.
| Медовый В. С. Состав оборудования и системная платформа комплексов автоматизированной микроскопии/В. С. Медовый [и др.] // Медицинская техника, 2007,N N 2.-С.29-36.-Библиогр.:30 назв.
|
7.
| Волков А.Б. Нелинейные свойства точечных микроконтактов,формируемых туннельным зондом/Волков А.Б., Неволин В.К. // Радиотехника и электроника, 1999,N Т.4.-С.11.-С.1373-1375.-Библиогр.:9 назв.
|
8.
| Родионов Б.Н. Сканирующие оптические микроскопы ближнего поля для нанотехнологий/Б.Н.Родионов // Строительные материалы, оборудование, технологии ХХI века, 2008,N N 9.-С.78 - 81
|
9.
| Байдин Г. С. Автоматизация подсчета количества частиц на наномасштабных изображениях электронного микроскопа/Г. С. Байдин, А. С. Титов // Биомедицинская радиоэлектроника, 2020,N № 5.-С.59-71
|
10.
| Родионов Б. Н. Атомно-силовые микроскопы для нанотехнологий // Строительные материалы,оборудование,технологии ХХI в, 2008,N N 8.-С.46 - 47
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный