Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Книги (45)

Полные тексты изданий ПГТУ (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-28

62
Н 34

Уртминцева, А. С.
Растровая электронная микроскопия [Текст] / А. С. Уртминцева, А. А. Шепелева ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых : материалы XII международной молодежной научной конференции по естественнонаучным и техническим дисциплинам (Йошкар-Ола, 21-22 апреля 2017 г.) : в 4 ч. / [редкол.: Д. В. Иванов и др.] ; М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т", Центр фундам. образования. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2017. - Ч. 2. - С. 65-66. - (Материаловедение и технология машиностроения). - Библиогр.: с. 66 (1 назв.) . - кнхр

УДК

Кл.слова (ненормированные):
ТРУДЫ ПГТУ -- международные конференции -- студенческие конференции -- растровая электронная микроскопия -- электронно-зондовый микроанализ
Доп.точки доступа:
Шепелева, А. А.
Крашенинникова, Н. Г. (кандидат физико-математических наук; доцент) \науч. рук.\

Найти похожие

Сотников, Олег Семенович (доктор биологических наук; профессор).
Механизм формирования двуядерных нейронов [Текст] / О. С. Сотников // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2017. - № 10. - С. 85-87 : 1 рис. - Библиогр.: с. 86 (4 назв.). - Реф. на англ. яз.

УДК

^a001

^a61

ББК 72 + 5

Рубрики: Наука. Науковедение

   Общие вопросы науки

   Здравоохранение. Медицинские науки

   Здравоохранение и медицинские науки в целом

Кл.слова (ненормированные):
двуядерные нейроны -- слияние нейронов -- щелевой контакт -- синцитиальная перфорация -- электрический синапс -- исследования -- анатомические структуры -- бинуклерные нейроны -- феномены демембранизации -- травматизм -- метоз -- электронная микроскопия -- дикарионы
Аннотация: Рассмотрены три морфологических феномена демембранизации: электрический синапс, синцитий и таинственное происхождение бинуклерных нейронов, которых многие гистологи рассматривают как неполный митоз.

Найти похожие

62
Н 34

Ведушев, С. А.
Методы исследования наноматериалов [Текст] / С. А. Ведушев ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых : сб. материалов Междунар. науч. студен. конф. по естественно- науч. и техн. дисциплинам, 18-19 апр. 2008 г. : в 3 ч. / М-во образования и науки РФ, Федер. агентство по образованию, Гос. ком. Респ. Марий Эл по проф. образованию, МарГТУ ; [редкол.: Иванов В. А. и др.]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2008. - Ч. 1. - С. 139-142. - (Прикладная и экологическая химия) . - 645898 кнхр

УДК

Кл.слова (ненормированные):
Труды МарГТУ -- методы исследования -- наноматериалы -- нанонаука -- электронная микроскопия -- электроны -- диэлектрики
Доп.точки доступа:
Крашенинникова, Н.Г. \науч. рук.\

Найти похожие

Ч2
Н 34

Методы и алгоритмы обработки наноскопических изображений в реальном масштабе времени [Текст] / А. А. Баев [и др.] // Материалы одиннадцатой международной научной школы- семинар "Наука и инновации-2016" ISS "SI-2016" : материалы 8-го международного школы- семинара "Фундаментальные исследования и инновации: нанооптика, фотоника и когерентная спектроскопия", 5-12 июля 2016 года / Рос. фонд фундам. исслед., Фонд содействия развитию малых форм предприятий в науч.- техн. сфере, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т" [и др.]; [редкол.: Попов И. И., Козлов В. А., Самарцев В. В.]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2016. - С. 50-53 : 2 рис. - (Нанооптика, фотоника и когерентная спектроскопия). - Библиогр.: с. 53 (14 назв.) . - кнхр

ББК Ч2

Кл.слова (ненормированные):
ТРУДЫ ПГТУ -- микроскопия -- наноскопические изображения -- точечные отметки -- обработка данных
Доп.точки доступа:
Баев, А. А.
Наумов, А. В.
Еремчев, И. И.
Роженцов, А. А.

Найти похожие

    Игумнов, Владимир Николаевич (кандидат технических наук; профессор).
    Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов [Текст] / В. Н. Игумнов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 5 (24). - С. 72-76 : 6 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 76 (7 назв.). - Реф. на англ. яз.

Рубрики: Радиоэлектроника

   Электроника в целом


Кл.слова (ненормированные):
Оже-спектроскопия -- вжигание -- диоксиды рутения -- концентрационные профили -- оптическая электронная микроскопия -- процессы термообработки -- растровая электронная микроскопия -- резистивные материалы -- рентгеновский микроанализ -- сопротивление растекания контактов -- термоактивационная проводимость -- токопроводящие фазы -- толстопленочные резистивные элементы -- точечные контакты -- экспериментальные исследования -- электропроводность -- пгту в печати
Аннотация: Приводятся результаты исследований распределения содержания токопроводящей фазы, а также распределения электропроводности в объеме резистивного элемента в результате термической обработки.

Найти похожие

    Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств [Текст] / И. И. Попов [и др.] // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96 : 6 рис. - Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз.

Рубрики: Радиоэлектроника

   Электроника в целом

   Физика

   Экспериментальные методы и аппаратура оптики


Кл.слова (ненормированные):
заданные параметры -- труды ПГТУ -- зондовая микроскопия -- магнетронное распыление -- методы моделирования -- наноразмерные пленочные структуры -- наноэлектронные материалы -- оптические свойства -- полупроводниковые кристаллиты -- полупроводниковые структуры -- рентгенодифракционный анализ -- текстурированность пленок -- тонкие пленки -- фотонное эхо -- функциональные покрытия
Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами.
Доп.точки доступа:
Попов, Иван Иванович (доктор физико-математических наук; профессор)
Вашурин, Никита Сергеевич (аспирант)
Мороз, Андрей Викторович (аспирант)
Степанов, Сергей Александрович (аспирант)
Сушенцов, Николай Иванович (кандидат технических наук; доцент)
Роженцов, Алексей Аркадьевич (доктор технических наук; профессор)
Евдокимов, Алексей Олегович (кандидат технических наук; доцент)

Найти похожие

Измерение линейных размеров кремниевых элементов нанорельефа с профилем, близким к прямоугольному методом дефокусировки электронного зонда РЭМ [Текст] // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 6. - С. 420-425 : ил. - Библиогр.: с. 425(3 назв.)

УДК

621.382

Кл.слова (ненормированные):
КРЕМНИЕВАЯ ТЕХНОЛОГИЯ(РАЗВИТИЕ) -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОСТРУКТУРЫ (ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ)
Аннотация: На РЭМ исследованы одиночные кремниевые элементы нанорельефа с разной шириной.

Найти похожие

Соколова, О. С.
Как увидеть "нано"? [Текст] / О. С. Соколова // Природа. - 2010. - N9. - С. 38-43. - Библиогр. в конце ст. . - НЧЗ

УДК

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- наночастицы -- электронная микроскопия -- криомикроскопия -- техногенные наночастицы

Найти похожие

Электронно-зондовая неразрушающая бесконтактная диагностика приборных структур микроэлектроники [Текст] // Микроэлектроника. - 2010. - Т. 39, N 5. - С. 327-336. - Библиогр.: с. 336 (14 назв.)

УДК

621.385

Кл.слова (ненормированные):
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- микротомография
Аннотация: Описан электронно-зондовый диагностический комплекс на базе растрового электронного микроскопа. позволяющий бесконтактным неразрушающим способом исследовать строение и архитектуру трехмерных приборных структур микроэлектроники.

Найти похожие

10.

54
С 87

Таланцев, В. И.
Исследование поверхности хлопковой целлюлозы методом полуконтактной атомно-силовой микроскопии (АСМ) [Текст] / В. И. Таланцев, Ю. Б. Грунин, Т. Л. Кудрявцев // Структура и динамика молекулярных систем : сб. статей ХVI всерос. конф. "Яльчик - 2009" . - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2009. - Ч.1. - С. 27-30 . - кнхр 646750

УДК

Кл.слова (ненормированные):
ТРУДЫ МАРГТУ -- ХЛОПКОВАЯ ЦЕЛЛЮЛОЗА ДРЕВЕСНАЯ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп.точки доступа:
Грунин, Ю.Б.
Кудрявцев, Т.Л.

Найти похожие

1-10 11-20 21-28

Тематический навигатор

Статистика за 26.06.2024
Число запросов	53399
Число посетителей	986
Число заказов	0