Поисковый запрос: (<.>K=ис<.>) |
Общее количество найденных документов : 44
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. 
|
Стасова, О. М.
Программирование возбуждением тока : ближайшие перспективы [Текст] / О.М.Стасова,А.М.Симонова,Т,М,Калякина // Зарубежная электронная техника. - 1999. - N3. - С. 32-46. - (Новости номера : микроэлектроника/технология)
Кл.слова (ненормированные):
Программируемые устройства(новые технологии) -- КМОП-технологии -- Одноэлектронные устройства(на основе квантовых эффектов) -- Квантовые приборы сформированные -- ИС(на изолирующей подложке) -- ИС логические(со встроенным СэПЗУ)
Аннотация: Совершенствование, перспективы развития.
Доп.точки доступа:
Симонова, А.М.
Калякина, Т.М.
Найти похожие
|
2.
|
Бараненков, И. В.
Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами [Текст] / Бараненков И.В., Агеев Р.Н. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - 153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Производство СБИС -- Очистка поверхности кремниевых пластин -- Жидкостная химическая очистка(производство БИС)
Доп.точки доступа:
Агеев, Р.Н.
Найти похожие
|
3.
|
Архипцов, К. А.
Себестоимость как критерий технологичности ИС и МЭА [Текст] / Архипцов К.А., Михайлов Д.Е. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - 153).-С.48-52.-Библиогр.:5 назв.
Кл.слова (ненормированные):
ПРоектирование изделий РЭС(себестоимость) -- Себестоимость изделий РЭС -- Технологичность конструкции РЭС(методика оценки)
Доп.точки доступа:
Михайлов, Д.Е.
Найти похожие
|
4.
|
Согоян, А. В.
Подход к прогнозированию радиационной деградации параметров КМОП ИС с учетом сроков и условий эксплуатации [Текст] / А.В.Согоян,А.И.Чумаков,А.Ю.Никифоров // Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - 4.-С.263-275.-Библиогр.:15 назв.
Кл.слова (ненормированные):
КМОП ИС(прогнозирование стойкости к излучению) -- МОП-приборы(процессы окисла при облучении)
Доп.точки доступа:
Чумаков, А.И.
Никифоров, А.Ю.
Найти похожие
|
5.
|
Рысин, В.
Магнитоуправляемые ИС на основе кремниевых датчиков Холла [Текст] / В.Рысин,В.Филь,С.Шоферистов // Электронные компоненты. - 2000. - N1. - С. 20-22
Кл.слова (ненормированные):
Магнитоуправляемые ИС(на основе датчиков Холла)
Доп.точки доступа:
Филь, В.
Шоферистов, С.
Найти похожие
|
6.
|
Шеремет, К.
Новые ИС для телефонов [Текст] / К.Шеремет,Б.Малашевич,В.Коробов // Электронные компоненты. - 2000. - N1. - С. 40-42
Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы(для телефонов)
Доп.точки доступа:
Малашевич, Б.
Коробов, В.
Найти похожие
|
7.
|
Курашов, Д.
Применение Шим-контроллера ИС3844 в схеме резонансного преобразователя [Текст] / Курашов Д. // Электронные компоненты. - 2000. - N5. - С. 50-51
Кл.слова (ненормированные):
Шим-контроллер(применение) -- Резонансный преобразователь(схема)
Найти похожие
|
8.
|
Поляков, В.
Специализированная ИС MC33157DW для управления электронным балластом для люминесцентных ламп [Текст] / В.Поляков,А.Барышников,Д.Панфилов // СHIP NEWS. - 2000. - N1. - С. 35-36. - (В помощь разработчику)
Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы(электротехника) -- Балласт электронный -- Светотехническая промышленность(электроника)
Аннотация: ИС специализированные для люминесцентных ламп
Доп.точки доступа:
Барышников, А.
Панфилов, Д.
Найти похожие
|
9.
|
Исследование контакта барьера Шоттки-GaAs на основе сплавов Ti-Ge [Текст] / А. П. Бибилашвили и [др.] // Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - 2.-С.122-126.-Библиогр.:8 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Приборы электронные(на основе барьера Шоттки) -- Шоттки барьер -- Производство ИС(на GaAs)
Доп.точки доступа:
Бибилашвили, А.П.
Герасимов, А.Б.
Самадашвили, З.Д.
Чопозов, Л.Г.
Найти похожие
|
10.
|
Некоторые применения микроволнового источника плотной плазмы в субмикронной технологии кремниевых интегральных схем [Текст] / С. Н. Аверкин и [др.] // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 3.-С.183-188.-Библиогр.:14 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Субмикронная технология кремниевых интегральных схем -- Интегральные схемы кремниевые(субмикронная технология) -- Микроволновой источник плотной плазмы(применение) -- Охлаждение тонких слоев SiO2 -- Заполнение субмикронных канавок -- Субмикронные канавки(заполнение) -- Тонкие слои SiO2(охлаждение) -- Локальная планаризация поверхности ИС -- Травление глубоких"тренчей"в диэлектрике -- Диэлектрик(травление"тренчей")
Доп.точки доступа:
Аверкин, С.Н.
Валиев, К.А.
Наумов, В.А.
Калинин, А.В.
Кривоспицкий, А.Д.
Орликовский, А.А.
Рылов, А.А.
Найти похожие
|
11.
|
Макушин, М.
Состояние, перспективы и проблемы развития рынка флэш-памяти [Текст] / Макушин М. // Электронные компоненты. - 2001. - N5. - С. 3-7
Кл.слова (ненормированные):
Рынок электронных компонентов(ИС флэш-памяти) -- ИС флэш-памяти(состояние рынка)
Найти похожие
|
12.
|
Снитовский, Ю. П.
Очистка поверхности пластин кремния жидкостным травлением для замкнутой системы изготовления в технологии ИС [Текст] / Снитовский Ю.П. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 3.-С.223-227.-Библиогр.:12 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы(технология изготовления) -- Очистки пластин кремния(технология) -- Жидкого химического травления метод
Найти похожие
|
13.
|
Горлов, М.
Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС [Текст] / М.Горлов,Л.Ануфриев,А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2001. - N5. - С. 22-26
Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы (надежность, испытания)
Доп.точки доступа:
Ануфриев, Л.
Строгонов, А.
Найти похожие
|
14.
|
Контактные TiSi2 и барьерные TiN слои для многоуровневой металлизации УБИС [Текст] / А. Г. Васильев и др. // Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - 1.-С.9-15.-Библиогр.:8 назв. - (Технологические процессы)
Кл.слова (ненормированные):
Многоуровневая металлизация УБИС -- Тонкие пленки ИС(формирование) -- Интегральные схемы(многоуровневые,металлизация) -- Технологические процессы в микроэлектронике -- Процессы технологические(в микроэлектронике)
Доп.точки доступа:
Васильев, А.Г.
Орликовский, А.А.
Родатис, В.В.
Хорин, И.А.
Найти похожие
|
15.
|
Строгонов, А.
Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования [Текст] / А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N6. - С. 44-49. - (Надежность)
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Интегральные схемы (прогнозирование долговечности) -- Прогнозирование долговечности ИС
Найти похожие
|
16.
|
Сарайкин, В. Г.
Иерархическая модель взаимодействия ИС ЛПК с внешней средой [Текст] / В.Г.Сарайкин,Д.В.Сысоев,И.А.Бойченко // Лесная промышленность. - 2002. - N3. - 16-20.-Библиогр.:5 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Информационная система ЛПК
Доп.точки доступа:
Сысоев, Д.В.
Бойченко, И.А.
Найти похожие
|
17.
|
Шинкарь, А.
Т-серия изолирующих ИС фирмы NVE [Текст] / А.Шинкарь // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2003. - №8. - С. 10-15. - (Инженерная микроэлектроника)
Кл.слова (ненормированные):
Изоляторы -- Интегральные схемы
Найти похожие
|
18.
|
Малашевич, Б.
Отечественные ИС для радиоприемников [Текст] / Б.Малашевич // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2003. - №8. - С. 58-61. - (В помощь разработчику)
Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы -- Интегральные схемы отечественные
Найти похожие
|
19.
| Ч21
В 12
Скулкин, Н. М.
Влияние технологических факторов на надежность спаев металлокерамических корпусов ИС [Текст] / Н. М. Скулкин, О. Н. Афонов // Глобализация и проблемы национальной безопасности России в XXI веке. Седьмые Вавиловские чтения : материалы постоянно действующей всерос. междисциплинар. науч. конф. [Йошкар-Ола, 10-11 дек. 2003 г.]: в 2 ч. / под общ. ред. В. П. Шалаева. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2003. - Ч. 2. - С. 317-319. - (Раздел 9. Технические и технологические аспекты национальной безопасности)
. - 642593 кнхр
ББК Ч21
Кл.слова (ненормированные):
Труды МарГТУ -- Дисперсность глиноземов -- Коррозионная стойкость спаев -- Спекание внутреннее (внешнее) -- Металлокерамические корпуса ИС (надежность) -- ВАВИЛОВСКИЕ ЧТЕНИЯ (7-Е)
Доп.точки доступа:
Афонов, О.Н.
Найти похожие
|
20.
| Ч21
В 12
Афонов, О. Н.
Процессы коррозии в спаях металлокерамических корпусов ИС [Текст] / О. Н. Афонов // Глобализация и проблемы национальной безопасности России в XXI веке. Седьмые Вавиловские чтения : материалы постоянно действующей всерос. междисциплинар. науч. конф. [Йошкар-Ола, 10-11 дек. 2003 г.]: в 2 ч. / под общ. ред. В. П. Шалаева. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2003. - Ч. 2. - С. 274-276. - (Раздел 9. Технические и технологические аспекты национальной безопасности)
. - 642593 кнхр
ББК Ч21
Кл.слова (ненормированные):
Коррозия питтинговая -- Металлокерамические корпуса ИС -- Электрохимические процессы коррозии -- Спекание пленки -- Коррозионная стойкость спая -- Труды МарГТУ -- ВАВИЛОВСКИЕ ЧТЕНИЯ (7-Е)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный