Поисковый запрос: (<.>K=ис<.>) |
Общее количество найденных документов : 44
Показаны документы с 1 по 20 |
|
>1.
| Стасова О.М. Программирование возбуждением тока : ближайшие перспективы/О.М.Стасова,А.М.Симонова,Т,М,Калякина // Зарубежная электронная техника, 1999,N N3..-С.32-46
|
>2.
| Бараненков И.В. Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами/Бараненков И.В., Агеев Р.Н. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника, 1999,N Вып.-С.153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
|
>3.
| Архипцов К.А. Себестоимость как критерий технологичности ИС и МЭА/Архипцов К.А., Михайлов Д.Е. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника, 1999,N Вып.-С.153).-С.48-52.-Библиогр.:5 назв.
|
>4.
| Согоян А.В. Подход к прогнозированию радиационной деградации параметров КМОП ИС с учетом сроков и условий эксплуатации/А.В.Согоян,А.И.Чумаков,А.Ю.Никифоров // Микроэлектроника, 1999,N Т.2.-С.4.-С.263-275.-Библиогр.:15 назв.
|
>5.
| Рысин В. Магнитоуправляемые ИС на основе кремниевых датчиков Холла/В.Рысин,В.Филь,С.Шоферистов // Электронные компоненты, 2000,N N1..-С.20-22
|
>6.
| Шеремет К. Новые ИС для телефонов/К.Шеремет,Б.Малашевич,В.Коробов // Электронные компоненты, 2000,N N1..-С.40-42
|
>7.
| Курашов Д. Применение Шим-контроллера ИС3844 в схеме резонансного преобразователя/Курашов Д. // Электронные компоненты, 2000,N N5..-С.50-51
|
>8.
| Поляков В. Специализированная ИС MC33157DW для управления электронным балластом для люминесцентных ламп/В.Поляков,А.Барышников,Д.Панфилов // СHIP NEWS, 2000,N N1..-С.35-36.
|
>9.
| Исследование контакта барьера Шоттки-GaAs на основе сплавов Ti-Ge/А. П. Бибилашвили и [др.] // Микроэлектроника, 2000,N Т.2.-С.2.-С.122-126.-Библиогр.:8 назв.
|
>10.
| Некоторые применения микроволнового источника плотной плазмы в субмикронной технологии кремниевых интегральных схем/С. Н. Аверкин и [др.] // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.3.-С.183-188.-Библиогр.:14 назв.
|
>11.
| Макушин М. Состояние, перспективы и проблемы развития рынка флэш-памяти/Макушин М. // Электронные компоненты, 2001,N N5..-С.3-7
|
>12.
| Снитовский Ю.П. Очистка поверхности пластин кремния жидкостным травлением для замкнутой системы изготовления в технологии ИС/Снитовский Ю.П. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.3.-С.223-227.-Библиогр.:12 назв.
|
>13.
| Горлов М. Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС/М.Горлов,Л.Ануфриев,А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2001,N N5.-С.22-26
|
>14.
| Контактные TiSi2 и барьерные TiN слои для многоуровневой металлизации УБИС/А. Г. Васильев и др. // Микроэлектроника, 2002,N Т.3.-С.1.-С.9-15.-Библиогр.:8 назв.
|
>15.
| Строгонов А. Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования/А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2002,N N6.-С.44-49
|
>16.
| Сарайкин В.Г. Иерархическая модель взаимодействия ИС ЛПК с внешней средой/В.Г.Сарайкин,Д.В.Сысоев,И.А.Бойченко // Лесная промышленность, 2002,N N3..-С.16-20.-Библиогр.:5 назв.
|
>17.
| Шинкарь А. Т-серия изолирующих ИС фирмы NVE/А.Шинкарь // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2003,N №8.-С.10-15
|
>18.
| Малашевич Б. Отечественные ИС для радиоприемников/Б.Малашевич // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2003,N №8.-С.58-61
|
>19.
| Скулкин Н.М. Влияние технологических факторов на надежность спаев металлокерамических корпусов ИС/Н. М. Скулкин, О. Н. Афонов // Глобализация и проблемы национальной безопасности России в XXI веке. Седьмые Вавиловские чтения. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2003,N Ч. 2.-С.317-319
|
>20.
| Афонов О.Н. Процессы коррозии в спаях металлокерамических корпусов ИС/О. Н. Афонов // Глобализация и проблемы национальной безопасности России в XXI веке. Седьмые Вавиловские чтения. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2003,N Ч. 2.-С.274-276
|
|
|