Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Старение электронных изделий(закономерности)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М. И., Строгонов А.В., Смирнов Д.Ю.
Заглавие : Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - С. 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): транзисторы(проверка)--старение электронных изделий(закономерности)--контроль качества электроники--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.019
Автор(ы) : Намичейшвили О.М., Табатадзе Т.Н.
Заглавие : Нестандартные модели для предсказания надежности электронных изделий
Место публикации : Радиотехника. - 1999. - N9. - С. 78-84.-Библиогр.:20 назв. - (Информационные технологии, радиотехнические схемы и элементная база)
УДК : 621.3.019
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные изделия(предсказание надежности)--надежность электронных изделий(предсказание)--старение электронных изделий(закономерности)--электронные изделия(закономерности старения)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 183856
Число посетителей 939
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».