Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 615.8
Автор(ы) : Креницкий А.П.
Заглавие : Проблемы измерения диэлектрических характеристик нано- и микроразмерных сред в терагерцевом диапазоне частот 100-3000ГГц
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N9. - С. 30-35.-Библиогр.:12 назв.
УДК : 615.8
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): производство наноэлектроники--спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)--измерения(параметров транзисторов)--нанотехнологии
Аннотация: Точность и быстродействие измерений в микро- и нанометровом масштабе
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.6
Автор(ы) : Широтов В.В., Дивин Ю.Я.
Заглавие : Частотно-селективный Джозефсоновский детектор импульсного субтерагерцового излучения[Текст]
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 2004. - Т.4. - С. №9.-С.1135-1139. - (Физические процессы в электронных приборах)
УДК : 621.385.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): детектор сигналов цифровой(быстродействующий)--тонкие пленки(исследование проводимости)--спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Расширение информативности равновесной вольт-емкостной спектроскопии локализованных электронных состояний у гетерограниц полупроводник/диэлектрик[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2004. - Т.3. - С. 4.-С.277-289.-Библиогр.: с.288-289. - (Получение и свойства микроэлектронных структур)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)--спектральные свойства(исследования)
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Орликовский А.А., Руденко К.В.
Заглавие : Диагностика in situ плазменных технологических процессов микроэлектроники : современное состояние и ближайшие перспективы. Часть 1.
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 2.-С.85-105.-Библиогр.:26 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронная технология(мониторинг процессов in situ)--плазменные технологические процессы(диагностика in situ)--спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)--масс-спектрометрия in situ--зондовые методы диагностики(процессов травления)--свч-диагностика плазмы--термометрия поверхности
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 534/535
Заглавие : Современные средства и методы акустооптической спектрометрии
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2007. - N8. - С. 48-55.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 534/535
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): спектральный анализ--мониторинг водной поверхности(радиометрический комплекс)--спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)--спектроанализатор
Аннотация: Зондирование водной поверхности, фотолюминесцентная спектроскопия, диагностика драгоценных камней.
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 02.08.2024
Число запросов 67610
Число посетителей 518
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».