Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Спектральные диагностические методы(в микроэлектронике)<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Креницкий А.П. Проблемы измерения диэлектрических характеристик нано- и микроразмерных сред в терагерцевом диапазоне частот 100-3000ГГц/А.П.Креницкий // Успехи современной радиоэлектроники, 2008,N N9..-С.30-35.-Библиогр.:12 назв.
2.

Широтов В.В. Частотно-селективный Джозефсоновский детектор импульсного субтерагерцового излучения[Текст]/В.В.Широтов, Ю.Я.Дивин // Радиотехника и электроника, 2004,N Т.4.-С.№9.-С.1135-1139.
3.

Расширение информативности равновесной вольт-емкостной спектроскопии локализованных электронных состояний у гетерограниц полупроводник/диэлектрик[Текст] // Микроэлектроника, 2004,N Т.3.-С.4.-С.277-289.-Библиогр.: с.288-289.
4.

Орликовский А.А. Диагностика in situ плазменных технологических процессов микроэлектроники : современное состояние и ближайшие перспективы. Часть 1./Орликовский А.А., Руденко К.В. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.2.-С.85-105.-Библиогр.:26 назв.
5.

Современные средства и методы акустооптической спектрометрии // Успехи современной радиоэлектроники, 2007,N N8..-С.48-55.-Библиогр.:7 назв.
 
Статистика
за 03.08.2024
Число запросов 2539
Число посетителей 118
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».