Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Сканирующей электронной микроскопии метод<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : ХХ!- век нано
Место публикации : Техника-молодежи. - 2008. - N9. - С. 12-13.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующей электронной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)--нанотрубки--производство наноэлектроники
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.315.592
Автор(ы) : Петров В.Н., Цырлин Г.Э., Голубок А.О., Комяк Н.И., Устинов В.М., Леденцов Н.Н., Алферов Ж.И., Бимберг Д.
Заглавие : Гетероструктуры с квантовыми точками в системе JnAs/Si
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 2.-С.119-126.-Библиогр.:17 назв.
УДК : 621.315.592
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетероструктуры с квантовыми точками(для новых приборов)--технологии новые(опто-и микроэлектроники)--дифракции быстрых электронов на отражение метод--сканирующей электронной микроскопии метод--сканирующей туннельной микроскопии метод--трансмиссионной электронной микроскопии метод--фотолюминесценции метод--система jnas/si--кремниевые технологии
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 12.08.2024
Число запросов 4483
Число посетителей 141
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».