Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3
Автор(ы) : Корнилов В.М.
Заглавие : Исследование слоистых структур Si-SiO2 и Si-SiO2-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зоновой нанотехнологии
Место публикации : Нанотехнологии : наука и производство. - 2009. - №3. - С. 54-64
Примечания : Библиогр.: с. 64 (17 назв.)
УДК : 620.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующей туннельной микроскопии метод--туннельно-зондовой нанотехнологии--слоистые структуры (формирование)--наноструктурные металлические материалы (сверхпластичность)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 53
Автор(ы) : Новиков Ю.А.
Заглавие : Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии
Место публикации : Микроэлектроника. - 2008. - Т.3. - С. 6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
УДК : 53
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанокристаллические ферромагнетики--сканирующей туннельной микроскопии метод--микроскопы туннельные сканирующие(свойства микроконтактов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.315.592
Автор(ы) : Петров В.Н., Цырлин Г.Э., Голубок А.О., Комяк Н.И., Устинов В.М., Леденцов Н.Н., Алферов Ж.И., Бимберг Д.
Заглавие : Гетероструктуры с квантовыми точками в системе JnAs/Si
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 2.-С.119-126.-Библиогр.:17 назв.
УДК : 621.315.592
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетероструктуры с квантовыми точками(для новых приборов)--технологии новые(опто-и микроэлектроники)--дифракции быстрых электронов на отражение метод--сканирующей электронной микроскопии метод--сканирующей туннельной микроскопии метод--трансмиссионной электронной микроскопии метод--фотолюминесценции метод--система jnas/si--кремниевые технологии
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.039:620.186
Автор(ы) : Суворов А.Л.
Заглавие : Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов
Место публикации : Металловедение и термическая обработка металлов. - 2003. - N8. - С. 28-34.-Библиогр.:54 назв.
УДК : 621.039:620.186
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиационные дефекты на поверхности--автономная микроскопия--зондовая микроскопия--сканирующей туннельной микроскопии метод
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 04.07.2024
Число запросов	68907
Число посетителей	722
Число заказов	0