Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ МЕТОД<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Гетероструктуры с квантовыми точками в системе JnAs/Si/В.Н.Петров,Г.Э.Цирлин,А.О.Голубок и др. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.2.-С.119-126.-Библиогр.:17 назв.
2.

Корнилов В.М. Исследование слоистых структур Si-SiO2 и Si-SiO2-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зоновой нанотехнологии/В. М. Корнилов // Нанотехнологии : наука и производство, 2009. т.№3.-С.54-64
3.

Новиков Ю.А. Геометрия формирования изображения в сканирующей зондовой микроскопии/Новиков, Ю.А. // Микроэлектроника, 2008,N Т.3.-С.6.-С.448-469.-Библиогр.:22 назв.
4.

Суворов А.Л. Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов/А.Л.Суворов // Металловедение и термическая обработка металлов, 2003,N N8..-С.28-34.-Библиогр.:54 назв.
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 91741
Число посетителей 1089
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».