Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Рефлектометры(дифференциального отражения)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.39
Автор(ы) : Жук В.
Заглавие : Рефлектометр косвенного измерения коэффициента отражения для диапазона частот 10...1100МГц[Текст]
Место публикации : Схемотехника. - 2005. - N8. - С. 44-45. - (Практика)
УДК : 621.39
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рефлектометры(дифференциального отражения)
Аннотация: Схема. Устройство для измерения коэффициента отражения в широком диапазоне частот.
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Ковалев В.И., Рукавишников А.И., Перов П.И., Россуканый Н.М., Авдева Л.А.
Заглавие : Разработка оптических методов и аппаратуры для контроля технологии и параметров полупроводниковых структур нано-и микроэлектроники
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1404-1408.-Библиогр.:13 назв. - (Новые радиоэлектронные системы и элементы)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)--оптика поляризационная(контроль полупроводниковых структур)--рефлектометры(дифференциального отражения)--эллипсометры(дифференциального отражения)--спектрометры(дифференциального отражения)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 4224
Число посетителей 410
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».