Поисковый запрос: (<.>K=РЕФЛЕКТОМЕТРЫ<.>) |
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7 |
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Любченко, Владимир Евтихиевич (доктор физико-математических наук; профессор), Любченко, Дмитрий Владимирович,
Заглавие : Перспективные разработки в области терагерцевой рефлектометрии для медицинской диагностики
/ В. Е. Любченко, Д. В. Любченко
Колич.характеристики :
Коллективы :
Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, Королевский технический университет
Серия: Устройства
Место публикации : Биомедицинская радиоэлектроника. - № 2
Примечания : Библиогр.: с. 54 (16 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Радиоэлектроника в целом
Здравоохранение. Медицинские науки
Медицинская радиология и рентгенология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рефлектометры--пространственное разрешение--диэлектрические волноводы--терагерцевое излучение--элементная база--медицинская диагностика--терагерцевая рефлектометрия--терагерцевые частоты--перспективные разработки
Аннотация: Обобщены последние результаты исследований по созданию элементной базы и устройств терагерцевого диапазона на основе диэлектрических волноводов применительно к задачам медицинской диагностики.
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.317
Автор(ы) : Ивлев А. Ю. (канд. физ-мат. наук)
Заглавие : Новые технологии в рефлектометрии
Серия: Метрология и стандартизация
Место публикации : Вестник связи. - 2010. - N 12. - С. 25-26
УДК : 621.317
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): импульсная техника--рефлектометры--рефлектометрия
Аннотация: Описаны технические характеристики рефлектометров.
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.396.62
Автор(ы) : Горохов В. М., Сергеев Д. В., Столяров В. С.
Заглавие : Улучшение рефлектограмм медных кабелей связи
Место публикации : Вестник связи. - 2009. - № 11. - С. 24-25
Примечания : Библиогр.: с. 25 (6 назв.)
УДК : 621.396.62
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кабель связи (защита)--медные линии связи (использование)--рефлектометры
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.317
Автор(ы) : Горохов В. М.
Заглавие : Вейвлет-рефлектометрия
Место публикации : Вестник связи. - 2007. - N 2. - С. 26-29
УДК : 621.317
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): измерительные приборы--кабельные сети--рефлектометры--вейвлет-преобразования
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.372
Автор(ы) : Аплеталин В.Н., Казанцев Ю.Н., Солосин В.С.
Заглавие : Рефлектометры сантиметровых и миллиметровых волн на основе полых металлодиэлектрических волноводов[Текст]
Место публикации : Радиотехника. - 2005. - N8. - С. 40-44.-Библиогр.: 9назв. - (Распространение радиоволн и техника СВЧ)
УДК : 621.372
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): миллиметровый диапазон волн--волноводы металлодиэлектрические(энергетические характеристики)
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.39
Автор(ы) : Жук В.
Заглавие : Рефлектометр косвенного измерения коэффициента отражения для диапазона частот 10...1100МГц[Текст]
Место публикации : Схемотехника. - 2005. - N8. - С. 44-45. - (Практика)
УДК : 621.39
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рефлектометры(дифференциального отражения)
Аннотация: Схема. Устройство для измерения коэффициента отражения в широком диапазоне частот.
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Ковалев В.И., Рукавишников А.И., Перов П.И., Россуканый Н.М., Авдева Л.А.
Заглавие : Разработка оптических методов и аппаратуры для контроля технологии и параметров полупроводниковых структур нано-и микроэлектроники
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1404-1408.-Библиогр.:13 назв. - (Новые радиоэлектронные системы и элементы)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)--оптика поляризационная(контроль полупроводниковых структур)--рефлектометры(дифференциального отражения)--эллипсометры(дифференциального отражения)--спектрометры(дифференциального отражения)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный