Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.3
Заглавие : Методы и аппаратура контроля параметров и испытаний современных мощных силовых полупроводниковых приборов
Место публикации : Электротехника. - 2004. - №4. - С. 3-11. - (Силовая электроника)
УДК : 621.382.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): силовая электроника--электроника силовая(проектирование)--полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Ковалев В.И., Рукавишников А.И., Перов П.И., Россуканый Н.М., Авдева Л.А.
Заглавие : Разработка оптических методов и аппаратуры для контроля технологии и параметров полупроводниковых структур нано-и микроэлектроники
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1404-1408.-Библиогр.:13 назв. - (Новые радиоэлектронные системы и элементы)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры(приборы для контроля параметров)--оптика поляризационная(контроль полупроводниковых структур)--рефлектометры(дифференциального отражения)--эллипсометры(дифференциального отражения)--спектрометры(дифференциального отражения)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	63820
Число посетителей	969
Число заказов	0