Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.002.2
Автор(ы) : Горлов М.И., Литвиненко Д.А.
Заглавие : Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв. - (Технологические процессы)
УДК : 621.38.002.2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--отжиг дефектов полупроводниковых приборов--дефекты радиационные и электростатические(п/п приборов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 20.07.2024
Число запросов 109055
Число посетителей 608
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».