Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (41)Полные тексты изданий ПГТУ (4)Авторефераты и диссертации (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПЛЕНКИ<.>)
Общее количество найденных документов : 125
Показаны документы с 1 по 30
 1-30    31-60   61-90   91-120   121-125 
1.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 674.028.9
Автор(ы) : Заяц И.М., Кушпит А.С.
Заглавие : Клеевая композиция для склеивания поливинилхлоридной пленки с древесностружечной плитой
Место публикации : Сб.науч.тр./Нац.АН Белоруси.Ин-т леса. - Гомель, 1997. - Вып. - С. Лесная наука на рубеже XXI века.-С.339-341. - (Механизация лесного хозяйства.Деревообработка и лесохимия)
УДК : 674.028.9
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): поливинилхлоридные пленки(облицовочный материал)--облицовывание древесных материалов пвх пленками
Экземпляры :кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.794.61
Автор(ы) : Ананьин Н.С., Полянский В.М.
Заглавие : Получение износостойкого покрытия на титановых сплавах методом оксидирования, совмещенного со старением
Место публикации : Металловедение и термическая обработка металлов. - 1998. - N2.
УДК : 621.794.61
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки оксидные--покрытия износостойкие
Аннотация: Цель данной работы - изыскание условий получения оксидных покрытий с высокими триботехническими свойствами при термических режимах старения высокопрочных (a+b)-сплавов титана и изучение свойств оптимального покрытия.
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Сокол В.А., Пинаева Н.Н., Гурская Е.А.
Заглавие : Легированные редкоземельными металлами диэлектрические пленки в МДМ-структурах
Место публикации : Микроэлектроника. - 1999. - Т.2. - С. 6.-С.454-456.-Библиогр.:13 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки диэлектрические легированные(термостабильность,прочность)--конденсаторы тонкопленочные(электрофизические характеристики)--пленки анодные оксидные(повышение микротвердости)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.315.592:546
Автор(ы) : Галиев Г.Б., Мокеров В.Г., Волков В.Ю., Имамов Р.М., Слепнев Ю.В., Хабаров Ю.В.
Заглавие : Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А,(111)В
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 11.-С.1360-1361.-Библиогр.:13 назв. - (Наноэлектроника)
УДК : 621.315.592:546
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): эпитаксия молекулярно-лучевая(особенности)--эпитаксиальные пленки(исследование структурных свойств)--эпитаксиальные пленки(исследования формы спектров люминесценции)--подложки(110),(111)а,(111)в(эпитаксиальных пленок)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Стасова О.М., Симонова А.М., Гузенкова Н.Д., Шорохова А.Г.
Заглавие : Современные материалы в технологии ЭВП
Место публикации : Зарубежная электронная техника. - 1999. - N2. - С. 44-63. - (Новости номера)
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электровакуумные приборы(новые материалы,внедрение)--пленки алмазоподобные(материалы эвп)--материалы керамические(эвп)--графит пирометический(материалы эвп)--магниты редкоземельные(материалы эвп)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.785
Автор(ы) : Ляпунов А.И., Алексеев Л.А.
Заглавие : Методика определения физико-химического состояния окисной пленки на сталях и сплавах при воздействии высоких температур
Место публикации : Материаловедение. - 1999. - N1.
УДК : 621.785
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленка окисная(физико-химическое состояние)--окисная пленка на сталях и сплавах--методика оценки жаростойкости металлических материалов
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 631.42.541.148
Автор(ы) : Курочкина Г.Н., Соколов О.А.
Заглавие : Кинетика формирования и свойства фазовых гидратных пленок на поверхности безводных почвенных минеральных компонентов
Место публикации : Почвоведение. - 1999. - N7. - С. 841-849.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 631.42.541.148
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): почвы(гидратные пленки)--гидратные пленки почв(свойства)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.372.853.1.01
Автор(ы) : Сотский А.Б., Романенко А.А., Хомченко А.В., Примак И.У.
Заглавие : Анализ распределения интенсивности отраженного пучка в схеме призменного возбуждения диэлектрических волноводов
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 1999. - Т.4. - С. 6.-С.687-695.-Библиогр.:18 назв. - (Электродинамика и распространение радиоволн)
УДК : 621.372.853.1.01
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): волноводы диэлектрические(анализ отраженного пучка)--волноведущие пленки(задачи восстановления параметров)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Сушенцов Н.И., Одинцов М.А.
Заглавие : Перспективы применения несбалансированного вч-магнетронного распыления для получения и легирования пленок AlN в процессе выращивания
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 24. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК : 621.382
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Будагян Б.Г., Шерченков А.А., Бердников А.Е., Черномордик В.Д.
Заглавие : Высокоскоростной метод осаждения аморфного кремния
Место публикации : Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - С. 6.-С.442-448.-Библиогр.:11 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): аморфный кремний(осаждение)--пленки аморфного кремния(свойства)--гетероструктуры(изготовление)--высокоскоростного осаждения a-si метод
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.315.592
Автор(ы) : Старков В.В., Старостина Е.А., Вяткин А.Ф., Горбатов Ю.Б.
Заглавие : Формирование локальных диэлектрических областей в Si-Si/Ge-структурах имплантацией и последующим неоднородным химическим травлением
Место публикации : Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - С. 5.-С.333-338.-Библиогр.:12 назв.
УДК : 621.315.592
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные микросхемы(изоляция элементов)--аморфные пористые пленки--неоднородное химическое травление--диэлектрические области локальные(формирование)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Самойлович М.И., Талис А.Л., Миронов М.И., Сушенцов Н.И.
Заглавие : Об экспериментальных возможностях получения алмазных пленок со структурой квазикристалла
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ. науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 22.-Библиогр.:5 назв. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК : 621.382
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Павлов Е.П.
Заглавие : Кафедре конструирования и производства радиоэлектронной аппаратуры-25 лет
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г./МарГТУ. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 13
УДК : 378.662.096:001.891
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 621.385.64.002.5
Автор(ы) : Сушенцов Н.И., Сушенцов Н.И., Михеев А.В., Ермолаев А.В.
Заглавие : Установка магнетронного распыления, совмещенная с ионнолучевым травлением
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ. науч.-техн.конф.,28-31 авг. 2000 г. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 15. - (Конструирование оборудования для получения и обработки тонких пленок)
УДК : 621.385.64.002.5
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Сычев А.Н., Мелешко А.В., Силантьев В.И.
Заглавие : Использование оптически неоднородных грунтовочных составов при отделке хвойной древесины
Место публикации : Химико-лесной комплекс - научное и кадровое обеспечение в XXIвеке.Проблемы и решения:сб.ст.междунар.науч.-практ.конф.19-20окт. - Красноярск, 2000. - С. 191
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): древесина хвойная(отделка,составы неоднородные грунтовочные)--покрытия лакокрасочные(отделка древесины хвойной)--лакокрасочные покрытия(отделка хвойной древесины)--полимерные пленки(отделка хвойной древесины)--пленки полимерные(отделка хвойной древесины)--хвойная древесина(отделка, составы неоднородные грунтовочные)
Экземпляры :кнхр-622425(1)
Свободны : кнхр-622425(1)
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Михеева Е.В., Михеева Е.В., Таланцев И.В., Скулкин Н.М.
Заглавие : Структурные схемы факторов дефектности МКК,МКП
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 августа 2000 г./МарГТУ. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 49. - (Формирование и обработка материалов на различных этапах изготовления изделий электронной техники)
УДК : 621.382
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.357.2
Автор(ы) : Мордвинцев В.М., Муравьева Н.Л.
Заглавие : Исследование процессов формирования пленок окисла нанометровой толщины электрохимическим анодированием кремния
Место публикации : Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - С. 3.-С.177-188.-Библиогр.:13 назв.
УДК : 621.357.2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электрохимического анодирования кремния процесс--пленки окисла нанометровой толщины(формирование)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.315
Автор(ы) : Черпак Н.Т., Величко А.В.
Заглавие : Высокотемпературные сверхпроводники в микроволновой технике
Место публикации : Зарубежная радиоэлектроника.Успехи современной радиоэлектроники. - 2000. - N4. - С. 3-48.-Библиогр.:163 назв.
УДК : 621.315
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): антенные системы(сверхпроводники)--гибридные устройства(сверхпроводники)--генераторы высокостабильные--микроволновая электродинамика втсп--втсп-устройства(достоинства)--втсп-пленки(нелинейные свойства)--микроволновые системы и подсистемы(создание)--сверхпроводники высокотемпературные(в микроволновой технике)--микроволновые устройства пассивные(создание)--линии передачи(сверхпроводники)--резонаторы--фильтры--мультиплексоры--фазовращатели--переключатели и ограничители
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Сушенцов Н.И., Гаязов И.М.
Заглавие : Ультразвуковая очистка изделий перед вакуумным покрытием
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 августа 2000 г./МарГТУ. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 42. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК : 621.382
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.785.5
Автор(ы) : Мансфельд Г.Д.
Заглавие : Радиоспектроскопия акустических свойств тонких слоев и пленок
Место публикации : Радиотехника. - 2000. - N8. - С. 29-36.-Библиогр.:12 назв.
УДК : 681.785.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиоспектроскопия--акустические свойства твердых тел--тонкие слои(акустические свойства)--тонкие пленки(акустические свойства)--акустический резонатор--резонансные пики--коэффициент поглощения волн--акустические волны(измерение скорости)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

21.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Буев А.Р., Игумнов В.Н., Иванов В.В., Мамаев Н.А., Юрьев Ю.М.
Заглавие : Влияние границ на свойства Bi(2212) ВТСП покрытия
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 августа 2000 г./МарГТУ. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 3-Библиогр.:2 назв. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК : 621.382
Найти похожие

22.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Леухин В.Н., Сухов А.М.
Заглавие : Исследование возможности применения электроискровой подгонки для тонкопленочных резистивных элементов
Место публикации : Тонкие пленки в электронике : тез. докл. ХI международ.науч.-техн.конф.,28-31 августа 2000 г./МарГТУ. - Йошкар-Ола, 2000. - С. 30. - (Перспективные методы нанесения и обработки тонких пленок. Строение и свойства тонких пленок)
УДК : 621.382
Найти похожие

23.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.178.15
Автор(ы) : Баринов С.М., Д.Де Мариа, Д.Ферро
Заглавие : Измерение твердости тонких керамических пленок
Место публикации : Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2001. - N11. - С. .42-47
УДК : 620.178.15
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкие керамические пленки(определение твердости)--твердость пленки--пленка(твердость)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

24.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Волков И.А., Калабухов А.С., Снигирев О.В., Жерихин А.Н., Маврин Б.Н.
Заглавие : Углеродные маски для получения YBa2Cu3Ox субмикронных мостиков и джозефсоновских переходов
Место публикации : Радиотехника и электроника. - 2001. - Т.4. - С. 6.-С.892-896.-Библиогр.:7 назв. - (Новые радиоэлектронные системы и элементы)
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): субмикронные джозефсоновские переходы(получение,использование)--углеродные маски--тонкие пленки(ионное травление)--технологии новые(изготовление тонкопленочных джозефсоновских переходов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

25.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.3
Автор(ы) : Данилюк А.Л., Снитовский Ю.П.
Заглавие : Очистка и подлегирование кремния в плазме BF3 при изготовлении омических контактов
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 4.-С.305-311.-Библиогр.:29 назв.
УДК : 621.382.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремний(очистка,подлегирование)--омические контакты(изготовление)--контакты омические высоконадежные невыпрямляющие--пленки молибдена(нанесение)--катодного распыления метод(нанесения пленок)--полупроводника и диэлектрика контакт
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

26.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 539.4
Автор(ы) : Куликов Ю.А., Лоскутов Ю.В., Максимов М.А., Зданович Ю.К.
Заглавие : Расчетно-экспериментальное исследование упругого деформирования трубопровода из полимерной пленки при действии ударной нагрузки
Место публикации : Прикладная механика и техническая физика. - 2001. - N2. - С. 122-128.-Библиогр.:10 назв.
УДК : 539.4
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): трубопровод(полиамидный, ударные нагрузки, деформирование, исследования)--гидроупругий процесс(метод расчета трубопровода полиамидного)--полиамидный трубопровод(нагрузки, ударные, расчет деформирование)
Найти похожие

27.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.002
Автор(ы) : Светличный А.М., Поляков В.В., Варзарев Ю.Н.
Заглавие : Формирование пленок диоксида кремния фотохимическим разложением тетраэтоксисилана
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 1.-С.27-31.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 621.382.002
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки диоксида кремния(формирование)--тетраэтоксисилан(фотохимическое разложение)--микроэлектроника(технологии)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

28.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.193.91
Автор(ы) : Игнатенко М.В., Ханин С.Д.
Заглавие : Влияние структуры диэлектрических пленок оксидов тантала и ниобия на их электропроводность
Место публикации : Материаловедение. - 2001. - N11. - С. .33-36
УДК : 620.193.91
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диэлектрические пленки оксидов тантала и ниобия--оксиды тантала и ниобия--электрическое нагружение конденсированных структур
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

29.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.029.64
Автор(ы) : Азизов А.В., Балыко А.К., Величко В.А., Гусев А.П., Гусельников Н.А., Семенов М.Г., Земляков В.Е., Малов В.В., Урсуляк Н.Д., Юсупова Н.И.
Заглавие : Достижения и перспективы применения высокотемпературных сверхпроводников в микроэлектронике СВЧ
Место публикации : Радиотехника. - 2001. - N2. - С. 4-16
УДК : 621.382.029.64
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника свч--сверхпроводники высокотемпературные(применение в микроэлектронике)--пленки ybacuo-системы(изготовление с помощью лазера)--свч-устройства пассивные(технология изготовления)--резонаторы--полосно-пропускающие фильтры--фильтры нижних частот
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

30.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.385.833
Автор(ы) : Ильин А.И., Апаршина Л.И., Дубонос С.В., Толкунов В.Н.
Заглавие : Влияние баллистических электронов проводимости на вольт-амперные характеристики крестообразных микроструктур из тонких пленок висмута
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 1.-С.22-26.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.385.833
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкие пленки(исследование проводимости)--проводимость тонких пленок(исследование)--баллистические электроны проводимости--вольт-амперные характеристики микроструктур--крестообразные микроструктуры(характеристики)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

 1-30    31-60   61-90   91-120   121-125 
 
Статистика
за 19.07.2024
Число запросов 27605
Число посетителей 294
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».