Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Надежность полупроводниковых изделий(оценка)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Моисеев Н. Г. (Преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Надежностно-ориентированное проектирование изделий электронной техники
Место публикации : Вестник МарГТУ. - 2008. - N1. - С. 88-95.
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): надежность полупроводниковых изделий(оценка)--проектирование рэа(надежностно-ориентированное)
Экземпляры :чз N1;нчз(1)
Свободны : чз N1;нчз(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Павлов Е. П. (преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе
Место публикации : Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 1. - С. 77-82.-Библиогр.:2 назв. - (Электроника)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--технологии микросистемной техники--надежность полупроводниковых изделий(оценка)--интегральные микросхемы(изготовление, контроль техпроцессов)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 04.07.2024
Число запросов 191336
Число посетителей 1052
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».