Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (164)Полные тексты изданий ПГТУ (9)Авторефераты и диссертации (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 307
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.

Сопинский Н.В. Изучение строения сложных тонкопленочных систем методом эллипсометрического моделирования(фоторезистивная система PbJ2-Cu)/Сопинский Н.В. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.41-46.-Библиогр.:12 назв.
2.

Мальцев П.П. Микросистемная техника-расширение возможностей микроэлектроники/Мальцев П.П. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.32-34.-Библиогр.:3 назв.
3.

Лукьянов А.В. Схемотехническая модель цифрового нейрона, работающего со средним значением стохастического потока/Лукьянов А.В. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.63-67.-Библиогр.:5 назв.
4.

Бубенников А.Н. Низковольтные комплиментарные двухтактные инверторы для УБИС : моделирование и перспективы/Бубенников А.Н., Зыков А.В. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.50-62.-Библиогр.:15 назв.
5.

Светличный А.М. Формирование пленок диоксида кремния фотохимическим разложением тетраэтоксисилана/А.М.Светличный,В.В.Поляков,Ю.Н.Варзарев // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.27-31.-Библиогр.:8 назв.
6.

Оболенский С.В. Исследование процессов генерации в баллистическом полевом транзисторе/Оболенский С.В., Китаев М.А. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.10-15.-Библиогр.:9 назв.
7.

Нанотехнология и наночипы. Часть 1 // CHIP NEWS. Инженерная микроэлектроника, 2001,N N 6.-С.46-54
8.

Влияние баллистических электронов проводимости на вольт-амперные характеристики крестообразных микроструктур из тонких пленок висмута/А. И. Ильин и др. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.22-26.-Библиогр.:9 назв.
9.

Повышенная генерация поверхностных состояний в МДП-элементах интегральных схем при воздействии ультрофиолетового и рентгеновского излучений/М. Н. Левин и [др.] // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.1.-С.16-21.-Библиогр.:15 назв.
10.

Орликовский А.А. Диагностика in situ плазменных технологических процессов микроэлектроники : современное состояние и ближайшие перспективы. Часть II/А.А.Орликовский,К.В.Руденко,Я.Н.Суханов // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.3.-С.163-182.-Библиогр.:29 назв.
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
Статистика
за 18.08.2024
Число запросов 36511
Число посетителей 390
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».