Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Уртминцева А. С. Растровая электронная микроскопия/А. С. Уртминцева, А. А. Шепелева ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых . -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2017,N Ч. 2.-С.65-66
|
2.
| Сотников О. С. Механизм формирования двуядерных нейронов/О. С. Сотников // Биомедицинская радиоэлектроника, 2017,N № 10.-С.85-87
|
3.
| Ведушев С.А. Методы исследования наноматериалов/С. А. Ведушев ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2008,N Ч. 1.-С.139-142
|
4.
| Методы и алгоритмы обработки наноскопических изображений в реальном масштабе времени/А. А. Баев [и др.] // Материалы одиннадцатой международной научной школы- семинар "Наука и инновации-2016" ISS "SI-2016". -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2016.-С.50-53
|
5.
| Игумнов В. Н. Формирование концентрационного профиля проводящей фазы в процессе термообработки толстопленочных резистивных элементов/В. Н. Игумнов // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы, 2014,N № 5 (24).-С.72-76
|
6.
| Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств/И. И. Попов [и др.] // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы, 2014,N № 3 (22).-С.74-96
|
7.
| Измерение линейных размеров кремниевых элементов нанорельефа с профилем, близким к прямоугольному методом дефокусировки электронного зонда РЭМ // Микроэлектроника, 2010. т.Т. 39,N N 6.-С.420-425
|
8.
| Соколова О.С. Как увидеть "нано"?/О. С. Соколова // Природа, 2010,N N9.-С.38-43
|
9.
| Электронно-зондовая неразрушающая бесконтактная диагностика приборных структур микроэлектроники // Микроэлектроника, 2010,N Т. 39, N 5.-С.327-336
|
10.
| Таланцев В.И. Исследование поверхности хлопковой целлюлозы методом полуконтактной атомно-силовой микроскопии (АСМ)/В. И. Таланцев, Ю. Б. Грунин, Т. Л. Кудрявцев // Структура и динамика молекулярных систем. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2009,N Ч.1.-С.27-30
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный