Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.39
Автор(ы) : Антипов В. А.
Заглавие : Отображение семантики домена контроля и диагностики на структуру XML-сообщений
Место публикации : Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - С. 61-67. -Библиогр.:4 назв
УДК : 681.39
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): доменные имена--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--тестовое оборудование(электронных производств)--проектирование медицинских приборов
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.049
Автор(ы) : Афонов О. Н. (преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Устойчивость металлокерамических корпусов к климатическим факторам
Место публикации : Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 3. - С. 77-85.-Библиогр.:5 назв.
УДК : 621.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металлизация сбис(новые технологии)--металлокерамика--интегральные схемы(контроль качества, надежность)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Бегер Е.
Заглавие : Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : Электронные компоненты. - 2009. - N1. - С. 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--печатные платы(проектирование)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.5
Автор(ы) : Борисевич К.
Заглавие : ОУ для контроля фотодиодов
Место публикации : Радиомир. - 2009. - N1. - С. 24-26.
УДК : 681.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фотодиоды кремниевые(характеристики)--измерители--операционные усилители--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - С. .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы(прогнозирование долговечности)--интегральные схемы(контроль качества, надежность)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :ЧЗN2(1)
Свободны : ЧЗN2(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.391
Автор(ы) : Курдин В., Шарапов А.
Заглавие : Разработка автоматизированной системы для настройки и тестирования радиоаппаратуры
Место публикации : Электронные компоненты. - 2005. - N11. - С. .37-39
УДК : 621.391
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): проектирование рэа(надежностно-ориентированное)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--автоматические системы управления(синтез)
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.008.6
Автор(ы) : Медведев А.
Заглавие : Роль тестирования в производстве электроники[Текст]
Место публикации : Производство электроники. - 2006. - N4. - С. 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
УДК : 621.382.008.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--печатные платы(производство)--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.326.74.06
Автор(ы) : Михайлов А.Н.
Заглавие : К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст]
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - С. N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв. - (Электронные м электромагнитные устройства)
УДК : 681.326.74.06
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микропроцессорные системы(средства тестирования, отладка)--качество полупроводниковых изделий--неисправности вычислительных систем--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.7.015
Автор(ы) : Мустафаев М.Г.
Заглавие : Системный подход к обеспечению качества изделий
Место публикации : Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
УДК : 621.7.015
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.381.049
Автор(ы) : Петрова Э.
Заглавие : Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст]
Место публикации : Производство электроники. - 2006. - N2. - С. 53-55.
УДК : 621.381.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--печатные платы(поверхностный монтаж)--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.3
Автор(ы) : Субботин М.
Заглавие : Устройство дистанционного контроля исправности пьезоэлектрических датчиков
Место публикации : Радио. - 2008. - N6. - С. 35-38.-Библиогр.:3 назв.
УДК : 681.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчики пьезоэлектрические--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
12.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Урличич Ю.
Заглавие : Противодействие проникновению контрафактных электронных компонентов на опыте создания системы ГЛОНАСС
Место публикации : Электронные компоненты. - 2007. - N3. - С. 49-54.-Бибилогр.:9 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные компоненты(обеспечение качества)--контрафактная продукция--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий--глонасс(построение,структура,функции)
Аннотация: Поддельные электронные компоненты
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Заглавие : Фотолюминесцентная методика оценки качества длиннопериодных CaAs/AlCaAs резонансно туннельных сверхрешеточных структур на разных технологических этапах изготовления
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 4.-С.261-276.-Библиогр.:27 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 303.7
Автор(ы) : Шипилов В. В.
Заглавие : Концептуальная модель и методология построения унифицированных средств контроля радиоэлектронного оборудования
Место публикации : Автоматизация и современные технологии. - 2010. - № 7. - С. 23-27. - нчз
УДК : 303.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиоэлектронные средства(системы радиоконтроля)--контроль качества электроники--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--служба контроля качества
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 25649
Число посетителей 650
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».