Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>) |
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 18 |
>1. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Ляпина, М. А. (преподаватель МарГТУ). Статистические методы оценки качества технологических процессов изготовления металлокерамических корпусов и плат [Текст] / М. А. Ляпина> // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2009. - № 2. - С. 68-76
Кл.слова (ненормированные): МЕНЕДЖМЕНТ КАЧЕСТВА (РАЗРАБОТКА СИСТЕМЫ) -- МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ -- МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ КОРПУСА (ДЕФЕКТЫ) -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПАЙКИ -- КАЧЕСТВО ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ -- КОРПУСА МИКРОСХЕМ
Найти похожие
|
>2. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Бегер, Е. Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер> // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные): Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>3. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Бергер, Е. Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер> // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные): Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС
Найти похожие
|
>4. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Квапель, Д. Тотальный контроль качества в руках контрактного производителя [Текст] / Д.Квапель> // CHIP NEWS. - 2008. - N7. - С. 13-15
Кл.слова (ненормированные): Контроль изделий в электронной технике -- Качество полупроводниковых изделий -- Тестовое оборудование (электронных производств)
Найти похожие
|
>5. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Фотолюминесцентная методика оценки качества длиннопериодных CaAs/AlCaAs резонансно туннельных сверхрешеточных структур на разных технологических этапах изготовления [Текст] > // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 4.-С.261-276.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>6. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Клячкин, В. Н. Контроль технологического процесса при нарушении нормальности распределения показателей [Текст] / В.Н.Клячкин,Е.И.Константинова> // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N7. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные): Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества в промышленных предприятиях
Найти похожие
|
>7. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Борисевич, К. Помехоустойчивость КМОП-элементов [Текст] / К.Борисевич> // Схемотехника. - 2007. - N5. - С. 16-18
Кл.слова (ненормированные): КМОП-схемы -- Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Помехоустойчивость(потенциальная)
Найти похожие
|
>8. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Урличич, Ю. Противодействие проникновению контрафактных электронных компонентов на опыте создания системы ГЛОНАСС [Текст] / Ю.Урличич,Н.Данилин> // Электронные компоненты. - 2007. - N3. - 49-54.-Бибилогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные): Электронные компоненты(обеспечение качества) -- Контрафактная продукция -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий -- ГЛОНАСС(построение,структура,функции) Аннотация: Поддельные электронные компоненты
Найти похожие
|
>9. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Борисевич, К. Устройства контроля датчиков [Текст] / К.Борисевич> // Радиомир. - 2007. - N3. - С. 22-23.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества электроники -- Датчики -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>10. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Мустафаев, М. Г. Системный подход к обеспечению качества изделий [Текст] / М.Г.Мустафаев> // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>11. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Горлов, М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов> // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные): Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа: Строгонов, А.В. Смирнов, Д.Ю.
Найти похожие
|
>12. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Комаров, А. О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС [Текст] / А.Комаров> // CHIP NEWS. - 2006. - N6. - С. 49-52
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества в промышленных предприятиях -- Качество полупроводниковых изделий -- Высшее образование российское (в области электроники) -- СБИС (повышение технологичности)
Найти похожие
|
>13. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Семенова, С. Качество воды и современные технологические процессы производства печатных плат[Текст] [Текст] / С.Семенова> // Производство электроники. - 2006. - N4. - С. 55-57
Кл.слова (ненормированные): Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий -- Влагозащита
Найти похожие
|
>14. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Медведев, А. Роль тестирования в производстве электроники[Текст] [Текст] / А.Медведев> // Производство электроники. - 2006. - N4. - 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>15. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Петрова, Э. Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст] [Текст] / Э.Петрова> // Производство электроники. - 2006. - N2. - С. 53-55.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(поверхностный монтаж) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>16. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Михайлов, А. Н. К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст] [Текст] / А.Н.Михайлов> // Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв. - (Электронные м электромагнитные устройства)
Кл.слова (ненормированные): Микропроцессорные системы(средства тестирования, отладка) -- Качество полупроводниковых изделий -- Неисправности вычислительных систем -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
>17. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Сускин, В. В. Контроль функционирования электронных схем в технологии поверхностного монтажа[Текст] [Текст] / В.В.Сускин> // Автоматизация и современные технологии. - 2006. - N3. - С. 42-46. - Библиогр.: с. 46 (2 назв.)
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества пайки -- Качество полупроводниковых изделий -- Поверхностный монтаж печатных плат
Найти похожие
|
>18. ![](/irbis64r_15/images/printer.jpg)
|
Строгонов, А. Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования [Текст] / А.Строгонов> // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N6. - С. 44-49. - (Надежность)
Кл.слова (ненормированные): Качество полупроводниковых изделий -- Интегральные схемы (прогнозирование долговечности) -- Прогнозирование долговечности ИС
Найти похожие
|
|