Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>)
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-18 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.049.7
Автор(ы) : Строгонов А.
Заглавие : Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N6. - С. 44-49. - (Надежность)
УДК : 621.38.049.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--интегральные схемы (прогнозирование долговечности)--прогнозирование долговечности ис
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.326.74.06
Автор(ы) : Михайлов А.Н.
Заглавие : К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст]
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - С. N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв. - (Электронные м электромагнитные устройства)
УДК : 681.326.74.06
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микропроцессорные системы(средства тестирования, отладка)--качество полупроводниковых изделий--неисправности вычислительных систем--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.008.6
Автор(ы) : Семенова С.
Заглавие : Качество воды и современные технологические процессы производства печатных плат[Текст]
Место публикации : Производство электроники. - 2006. - N4. - С. 55-57
УДК : 621.382.008.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): печатные платы(производство)--качество полупроводниковых изделий--влагозащита
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.5
Автор(ы) : Клячкин В.Н.
Заглавие : Контроль технологического процесса при нарушении нормальности распределения показателей
Место публикации : Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N7. - С. 3-6
Примечания : Библиогр.: с. 6 (8 назв.)
УДК : 681.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества в промышленных предприятиях
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.284
Автор(ы) : Сускин В.В.
Заглавие : Контроль функционирования электронных схем в технологии поверхностного монтажа[Текст]
Место публикации : Автоматизация и современные технологии. - 2006. - N3. - С. 42-46
Примечания : Библиогр.: с. 46 (2 назв.)
УДК : 621.284
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества пайки--качество полупроводниковых изделий--поверхностный монтаж печатных плат
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.381.049
Автор(ы) : Петрова Э.
Заглавие : Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст]
Место публикации : Производство электроники. - 2006. - N2. - С. 53-55.
УДК : 621.381.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--печатные платы(поверхностный монтаж)--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Комаров А.
Заглавие : О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС
Место публикации : CHIP NEWS. - 2006. - N6. - С. 49-52
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества в промышленных предприятиях--качество полупроводниковых изделий--высшее образование российское (в области электроники)--сбис (повышение технологичности)
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.04
Автор(ы) : Борисевич К.
Заглавие : Помехоустойчивость КМОП-элементов
Место публикации : Схемотехника. - 2007. - N5. - С. 16-18
УДК : 621.382.04
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кмоп-схемы--качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--помехоустойчивость(потенциальная)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Бегер Е.
Заглавие : Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : Электронные компоненты. - 2009. - N1. - С. 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--печатные платы(проектирование)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бергер Е.
Заглавие : Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : СHIP NEWS. - 2008. - N10. - С. .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--печатные платы(изготовление)--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
 1-10    11-18 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 04.07.2024
Число запросов 67040
Число посетителей 708
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».