Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>)
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-18 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Бегер Е.
Заглавие : Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : Электронные компоненты. - 2009. - N1. - С. 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--печатные платы(проектирование)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бергер Е.
Заглавие : Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : СHIP NEWS. - 2008. - N10. - С. .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--печатные платы(изготовление)--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.04
Автор(ы) : Борисевич К.
Заглавие : Помехоустойчивость КМОП-элементов
Место публикации : Схемотехника. - 2007. - N5. - С. 16-18
УДК : 621.382.04
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кмоп-схемы--качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--помехоустойчивость(потенциальная)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.391
Автор(ы) : Борисевич К.
Заглавие : Устройства контроля датчиков
Место публикации : Радиомир. - 2007. - N3. - С. 22-23.
УДК : 621.391
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества электроники--датчики--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М. И., Строгонов А.В., Смирнов Д.Ю.
Заглавие : Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - С. 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): транзисторы(проверка)--старение электронных изделий(закономерности)--контроль качества электроники--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Квапель Д.
Заглавие : Тотальный контроль качества в руках контрактного производителя
Место публикации : CHIP NEWS. - 2008. - N7. - С. 13-15
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль изделий в электронной технике--качество полупроводниковых изделий--тестовое оборудование (электронных производств)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.5
Автор(ы) : Клячкин В.Н.
Заглавие : Контроль технологического процесса при нарушении нормальности распределения показателей
Место публикации : Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N7. - С. 3-6
Примечания : Библиогр.: с. 6 (8 назв.)
УДК : 681.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества в промышленных предприятиях
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Комаров А.
Заглавие : О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС
Место публикации : CHIP NEWS. - 2006. - N6. - С. 49-52
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества в промышленных предприятиях--качество полупроводниковых изделий--высшее образование российское (в области электроники)--сбис (повышение технологичности)
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 6621.382.049.77
Автор(ы) : Ляпина М. А. (преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Статистические методы оценки качества технологических процессов изготовления металлокерамических корпусов и плат
Место публикации : Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2009. - № 2. - С. 68-76
УДК : 6621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): менеджмент качества (разработка системы)--металлокерамические--металлокерамические корпуса (дефекты)--контроль качества пайки--качество полупроводниковых изделий--корпуса микросхем
Экземпляры :чз№2, чз№1, НЧЗ(1)
Свободны : чз№2, чз№1, НЧЗ(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.008.6
Автор(ы) : Медведев А.
Заглавие : Роль тестирования в производстве электроники[Текст]
Место публикации : Производство электроники. - 2006. - N4. - С. 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
УДК : 621.382.008.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--печатные платы(производство)--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
 1-10    11-18 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 06.07.2024
Число запросов 93085
Число посетителей 1093
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».