Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>) |
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Строгонов, А.
Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования [Текст] / А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N6. - С. 44-49. - (Надежность)
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Интегральные схемы (прогнозирование долговечности) -- Прогнозирование долговечности ИС
Найти похожие
|
2.
|
Семенова, С.
Качество воды и современные технологические процессы производства печатных плат[Текст] [Текст] / С.Семенова // Производство электроники. - 2006. - N4. - С. 55-57
Кл.слова (ненормированные):
Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий -- Влагозащита
Найти похожие
|
3.
|
Комаров, А.
О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС [Текст] / А.Комаров // CHIP NEWS. - 2006. - N6. - С. 49-52
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества в промышленных предприятиях -- Качество полупроводниковых изделий -- Высшее образование российское (в области электроники) -- СБИС (повышение технологичности)
Найти похожие
|
4.
|
Горлов, М. И.
Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные):
Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.
Смирнов, Д.Ю.
Найти похожие
|
5.
|
Медведев, А.
Роль тестирования в производстве электроники[Текст] [Текст] / А.Медведев // Производство электроники. - 2006. - N4. - 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
6.
|
Сускин, В. В.
Контроль функционирования электронных схем в технологии поверхностного монтажа[Текст] [Текст] / В.В.Сускин // Автоматизация и современные технологии. - 2006. - N3. - С. 42-46. - Библиогр.: с. 46 (2 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества пайки -- Качество полупроводниковых изделий -- Поверхностный монтаж печатных плат
Найти похожие
|
7.
|
Михайлов, А. Н.
К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст] [Текст] / А.Н.Михайлов // Известия вузов. Приборостроение. - 2006. - Т.4. - N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв. - (Электронные м электромагнитные устройства)
Кл.слова (ненормированные):
Микропроцессорные системы(средства тестирования, отладка) -- Качество полупроводниковых изделий -- Неисправности вычислительных систем -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Найти похожие
|
8.
|
Петрова, Э.
Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст] [Текст] / Э.Петрова // Производство электроники. - 2006. - N2. - С. 53-55.
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(поверхностный монтаж) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
9.
|
Мустафаев, М. Г.
Системный подход к обеспечению качества изделий [Текст] / М.Г.Мустафаев // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
Кл.слова (ненормированные):
Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
10.
|
Клячкин, В. Н.
Контроль технологического процесса при нарушении нормальности распределения показателей [Текст] / В.Н.Клячкин,Е.И.Константинова // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N7. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (8 назв.)
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества в промышленных предприятиях
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный