Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>) |
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 10 |
|
>1.
|
Фотолюминесцентная методика оценки качества длиннопериодных CaAs/AlCaAs резонансно туннельных сверхрешеточных структур на разных технологических этапах изготовления [Текст] > // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 4.-С.261-276.-Библиогр.:27 назв.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>2.
|
Борисевич, К. Устройства контроля датчиков [Текст] / К.Борисевич> // Радиомир. - 2007. - N3. - С. 22-23.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества электроники -- Датчики -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>3.
|
Квапель, Д. Тотальный контроль качества в руках контрактного производителя [Текст] / Д.Квапель> // CHIP NEWS. - 2008. - N7. - С. 13-15
Кл.слова (ненормированные): Контроль изделий в электронной технике -- Качество полупроводниковых изделий -- Тестовое оборудование (электронных производств)
Найти похожие
|
>4.
|
Ляпина, М. А. (преподаватель МарГТУ). Статистические методы оценки качества технологических процессов изготовления металлокерамических корпусов и плат [Текст] / М. А. Ляпина> // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2009. - № 2. - С. 68-76
Кл.слова (ненормированные): МЕНЕДЖМЕНТ КАЧЕСТВА (РАЗРАБОТКА СИСТЕМЫ) -- МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ -- МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ КОРПУСА (ДЕФЕКТЫ) -- КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПАЙКИ -- КАЧЕСТВО ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ -- КОРПУСА МИКРОСХЕМ
Найти похожие
|
>5.
|
Мустафаев, М. Г. Системный подход к обеспечению качества изделий [Текст] / М.Г.Мустафаев> // Автоматизация и современные технологии. - 2007. - N1. - С. 43-45
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>6.
|
Медведев, А. Роль тестирования в производстве электроники[Текст] [Текст] / А.Медведев> // Производство электроники. - 2006. - N4. - 15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
Кл.слова (ненормированные): Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Печатные платы(производство) -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
>7.
|
Урличич, Ю. Противодействие проникновению контрафактных электронных компонентов на опыте создания системы ГЛОНАСС [Текст] / Ю.Урличич,Н.Данилин> // Электронные компоненты. - 2007. - N3. - 49-54.-Бибилогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные): Электронные компоненты(обеспечение качества) -- Контрафактная продукция -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий -- ГЛОНАСС(построение,структура,функции) Аннотация: Поддельные электронные компоненты
Найти похожие
|
>8.
|
Горлов, М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов> // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные): Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа: Строгонов, А.В. Смирнов, Д.Ю.
Найти похожие
|
>9.
|
Бергер, Е. Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер> // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные): Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС
Найти похожие
|
>10.
|
Бегер, Е. Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер> // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные): Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
|
|