Поисковый запрос: (<.>K=Качество полупроводниковых изделий<.>) |
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Строгонов А. Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования/А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2002,N N6.-С.44-49
|
2.
| Семенова С. Качество воды и современные технологические процессы производства печатных плат[Текст]/С.Семенова // Производство электроники, 2006,N N4..-С.55-57
|
3.
| Комаров А. О системной среде качества для разработок и производства субмикронных СБИС/А.Комаров // CHIP NEWS, 2006,N N6.-С.49-52
|
4.
| Горлов М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]/М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника, 2006,N Т.5.-С.5.-С.392-400.
|
5.
| Медведев А. Роль тестирования в производстве электроники[Текст]/А.Медведев // Производство электроники, 2006,N N4..-С.15-29.-Библиогр.: 4 назв.; N5.-С.
|
6.
| Сускин В.В. Контроль функционирования электронных схем в технологии поверхностного монтажа[Текст]/В.В.Сускин // Автоматизация и современные технологии, 2006,N N3.-С.42-46
|
7.
| Михайлов А.Н. К вопросу диагностирования сложных устройств с микропрограммным управлением[Текст]/А.Н.Михайлов // Известия вузов. Приборостроение, 2006,N Т.4.-С.N12.-С.31-34.-Библиогр.: 4назв.
|
8.
| Петрова Э. Лабораторный контроль качества продукции и процессов в производстве печатных плат[Текст]/Э.Петрова // Производство электроники, 2006,N N2..-С.53-55.
|
9.
| Мустафаев М.Г. Системный подход к обеспечению качества изделий/М.Г.Мустафаев // Автоматизация и современные технологии, 2007,N N1.-С.43-45
|
10.
| Клячкин В.Н. Контроль технологического процесса при нарушении нормальности распределения показателей/В.Н.Клячкин,Е.И.Константинова // Автоматизация и современные технологии, 2007,N N7.-С.3-6
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный