Поисковый запрос: (<.>K=КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14 |
1.
| Шипилов В. В. Концептуальная модель и методология построения унифицированных средств контроля радиоэлектронного оборудования/В. В. Шипилов // Автоматизация и современные технологии, 2010,N № 7.-С.23-27
|
2.
| Козлов С.В. Многофункциональный контроллер видеокамеры рентгеновского преобразователя/С. В. Козлов, Д. М. Чумаков, Е. Г. Точинский // Мехатроника, автоматизация, управление, 2009. т.№9.-С.53-57
|
3.
| Масальский Н.В. Вопросы масштабирования характеристик КМОП СБИС/Н. В. Масальский // Успехи современной радиоэлектроники, 2009. т.№7.-С.3-27
|
4.
| Бергер Е. Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования/Е.Бегер // СHIP NEWS, 2008,N N10.-С..-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
|
5.
| Васильева Т. Информационно-измерительная экспертная система проведения испытаний технических средств по требованиям безопасности/Т.Васильевна // CHIP NEWS, 2008,N N5.-С.41-44
|
6.
| Автоматизация сбора данных от АЦП // СHIP NEWS, 2007,N N9..-С.38-41.
|
7.
| Борисевич К. Помехоустойчивость КМОП-элементов/К.Борисевич // Схемотехника, 2007,N N5..-С.16-18
|
8.
| Горлов М. Микроэлектронный датчик влажности/М.Горлов,Д.Ануфриев,Н.Шишкина // СHIP NEWS, 2007,N N4..-С.27-29.-Бибилогр.:11назв.
|
9.
| Борисевич К. Устройства контроля датчиков/К.Борисевич // Радиомир, 2007,N N3..-С.22-23.
|
10.
| Горлов М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]/М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника, 2006,N Т.5.-С.5.-С.392-400.
|
11.
| Агаханян Т.М. Использование аналоговых интегральных микросхем на комплиментарных транзисторах с быстродействующим каналом в спецаппаратуре[Текст]/Т.М.Агаханян // Микроэлектроника, 2006,N Т.3.-С.N3.-С.230-234.Библиогр.: 21 назв.
|
12.
| Сушко В.Ю. Метод выбора параметров многослойной защиты электронного устройства от мощного теплового воздействия[Текст]/В.Ю.Сушко,В.А.Кораблев, А.В.Шарков // Известия вузов. Приборостроение, 2006,N Т.4.-С.3.-С.64-69.-Библиогр.: 8 назв.
|
13.
| Добыкин В.Д. Модель функционального поражения полупроводниковых элементов электромагнитными импульсами, в которых в качестве граничных условий используются градиенты температуры[Текст]/В.Д.Добыкин, В.В.Харченко // Радиотехника и электроника, 2006,N Т.5.-С.N2.-С.242-251.-Библиогр.: 9назв.
|
14.
| Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем/Горлов М.И., Строгонов А.В. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный