Поисковый запрос: (<.>K=ИС<.>) |
Общее количество найденных документов : 44
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.396.6:338.5
Автор(ы) : Архипцов К.А., Михайлов Д.Е.
Заглавие : Себестоимость как критерий технологичности ИС и МЭА
Место публикации : Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - С. 153).-С.48-52.-Библиогр.:5 назв.
УДК : 621.396.6:338.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): проектирование изделий рэс(себестоимость)--себестоимость изделий рэс--технологичность конструкции рэс(методика оценки)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из сборника (том многотомника)
Шифр издания : Ч21/В 12
Автор(ы) : Афонов О.Н.
Заглавие : Процессы коррозии в спаях металлокерамических корпусов ИС
Место публикации : Глобализация и проблемы национальной безопасности России в XXI веке. Седьмые Вавиловские чтения: материалы постоянно действующей всерос. междисциплинар. науч. конф. [Йошкар-Ола, 10-11 дек. 2003 г.]: в 2 ч./ под общ. ред. В. П. Шалаева. - Йошкар-Ола: МарГТУ, 2003. - Ч. 2. - С. 274-276. - (Раздел 9. Технические и технологические аспекты национальной безопасности). - 642593 кнхр
ББК : Ч21
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): коррозия питтинговая--металлокерамические корпуса ис--электрохимические процессы коррозии--спекание пленки--коррозионная стойкость спая--труды маргту--вавиловские чтения (7-е)
Экземпляры :642593 абнл(1)
Свободны : 642593 абнл(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Бараненков И.В., Агеев Р.Н.
Заглавие : Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами
Место публикации : Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - С. 153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): производство сбис--очистка поверхности кремниевых пластин--жидкостная химическая очистка(производство бис)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.3(075.8)
Заглавие : Верификация цифровых систем на базе программируемых логических интегральных схем, выполняющих функции безопасности в критических приложениях[Текст]
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2005. - N10. - С. .59-76.-Библиогр.: 30назв.
УДК : 681.3(075.8)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): плис(применение)--верификация топологии ис(система от_то)--информационно-управляющие системы
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 629.1-45/Г 23
Автор(ы) : Гатиятов, Ильнур Зиннурович (старший преподаватель), Сабитов, Линар Салихзанович,
Заглавие : Разработка методики и специального стенда ИС-1 для испытания опор контактных сетей электрического транспорта
/ И. З. Гатиятов, Л. С. Сабитов
Колич.характеристики :
Коллективы :
Казанский государственный энергетический университет, Казанский государственный энергетический университет, Казанский государственный энергетический университет
Серия: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы
Место публикации : Известия вузов. Проблемы энергетики. - Т. 19, № 1/2. - ISSN 1998-9903. - ISSN 1998-9903
Примечания : Библиогр. в конце ст. (17 назв.)
УДК : 629.1-45
ББК : 39.8
Предметные рубрики: Транспорт
Городской транспорт
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контактные сети--напряженно-деформированное состояние--натурные испытания--опоры контактной сети--соединение трубчатых стержней--численные исследования--электрический транспорт
Аннотация: В статье представлена разработанная методика испытания опор контактных сетей электрического транспорта на спроектированном стенде ИС-1. Описана методика испытания.
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - С. .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы(прогнозирование долговечности)--интегральные схемы(контроль качества, надежность)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :ЧЗN2(1)
Свободны : ЧЗN2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.049.77
Автор(ы) : Горлов М., Ануфриев Л., Строгонов А.
Заглавие : Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2001. - N5. - С. 22-26
УДК : 621.38.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы (надежность, испытания)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049.77
Автор(ы) : Горяев, Иван
Заглавие : Между строк DATASHEET, или как расширить возможности ИС
Серия: Разработка и конструирование
Место публикации : Электронные компоненты. - 2010. - N 11. - С. 13-15
Примечания : Библиогр.: с. 15(2 назв.)
УДК : 621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы--быстродействующие аналоговые интегральные микросхемы
Аннотация: В статье описаны приемы, позволяющие использовать "скрытые" возможности ИС и варьировать их параметры.
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049
Автор(ы) : Дворников О.
Заглавие : Схемотехника биполярно-полевых аналоговых микросхем[Текст]
: Ч.1.Особенности электрических параметров элементов современных ИС; Ч.2 Высокоточные повторители тока
Место публикации : СHIP NEWS. - 2004. - №9. - С. 18-25.-Библиогр.: с.25;№10.-С.40-45.-Библиогр.: с.45; 2005.-N3.-С.66-68. - (Аналоговая техника)
УДК : 621.3.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): аналоговые интегральные микросхемы(определение параметров)
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Джилла, Судхакар
Заглавие : Проектирование ИС на основе учета разброса параметров
Место публикации : Электронные компоненты. - 2008. - N4. - С. 56-63.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): проектирование рэа (надежностно-ориентированные)--интегральные схемы
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный