Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Книги (5)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Зондовая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.039:620.186
Автор(ы) : Суворов А.Л.
Заглавие : Возможности и перспективы атомно-масштабных ультрамикроскопических исследований радиационной повреждаемости конструкционных и делящихся материалов
Место публикации : Металловедение и термическая обработка металлов. - 2003. - N8. - С. 28-34.-Библиогр.:54 назв.
УДК : 621.039:620.186
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиационные дефекты на поверхности--автономная микроскопия--зондовая микроскопия--сканирующей туннельной микроскопии метод
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Попов, Иван Иванович, Вашурин, Никита Сергеевич, Мороз, Андрей Викторович, Степанов, Сергей Александрович, Сушенцов, Николай Иванович, Роженцов, Алексей Аркадьевич, Евдокимов, Алексей Олегович
Заглавие : Новые подходы получения материалов наноэлектроники магнетронным распылением с использованием методов контроля их структуры и оптических свойств
Серия: Электроника
Разночтения заглавия :: New approaches to getting nanoelectronics materials by means of magnetron sputtering using control methods of their structure and optical properties
Место публикации : Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2014. - № 3 (22). - С. 74-96: 6 рис.
Примечания : Библиогр.: с. 86-89 (87 назв.). - Реф. на англ. яз.
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Физика
Экспериментальные методы и аппаратура оптики
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): заданные параметры--труды пгту--зондовая микроскопия--магнетронное распыление--методы моделирования--наноразмерные пленочные структуры--наноэлектронные материалы--оптические свойства--полупроводниковые кристаллиты--полупроводниковые структуры--рентгенодифракционный анализ--текстурированность пленок--тонкие пленки--фотонное эхо--функциональные покрытия
Аннотация: О возможности получения методом магнетронного распыления наноразмерных пленочных структур функциональных покрытий с заданными параметрами.
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.9.048
Автор(ы) : Бесогонов В.В., Скворцова И.Н.
Заглавие : Уменьшение шероховатости поверхности ситалловой подложки до наноразмерных значений
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2009. - №9. - С. 72-76
УДК : 621.9.048
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктура--зондовая микроскопия--микроскопы туннельные сканирующие (свойства микроконтактов)
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 04.07.2024
Число запросов 70360
Число посетителей 722
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».