Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Дефектообразование в подложках БИС<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Бегер Е.
Заглавие : Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : Электронные компоненты. - 2009. - N1. - С. 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--печатные платы(проектирование)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бергер Е.
Заглавие : Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : СHIP NEWS. - 2008. - N10. - С. .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--печатные платы(изготовление)--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049.77
Автор(ы) : Передреева М. А. (Преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Проблема согласования усадочных свойств металлизационного слоя и подложки при производстве металлокерамических плат
Место публикации : Вестник МарГТУ. - 2008. - N2. - С. 68-75.-Библиогр.:6 назв.
УДК : 621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--платы(проектирование)--металл-изолятор-металл
Экземпляры :чз N1;нчз(1)
Свободны : чз N1;нчз(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049.77
Автор(ы) : Скворцов А.М.
Заглавие : Конструирование подложек БИС
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2002. - Т.4. - С. 4.-С.57-63. - (Технология приборостроения)
УДК : 621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): подложки бис(конструирование)--бис--конструирование подложек бис--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 53540
Число посетителей 568
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».