Поисковый запрос: (<.>K=ДИЭЛЕКТРИКИ<.>) |
Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 10 |
|
>1.
| Ведушев С.А. Методы исследования наноматериалов/С. А. Ведушев ; науч. рук. Н. Г. Крашенинникова // Научному прогрессу - творчество молодых. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2008,N Ч. 1.-С.139-142
|
>2.
| Александров И.М. Исследование диэлектрических свойств термостойкой пленки/И. М. Александров, Д. О. Шевченко ; науч. рук. Л. А. Григорьев // Научному прогрессу - творчество молодых. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2008,N Ч. 1.-С.35-36
|
>3.
| Ошаев Н. А. Портативная установка для исследования пробоя твердых диэлектриков/Н. А. Ошаев ; науч. рук. К. С. Клюжев // Мой первый шаг в науку. -Йошкар-Ола:ПГТУ, 2017,N Ч. 1:Фундаментальные науки. Информатика. Техника.-С.173-174
|
>4.
| Ермолаев Е. В. Стабилизация термомеханической прочности металлокерамических плат и корпусов микросхем в процессе циклической высокотемпературной обработки/Е. В. Ермолаев, Н. М. Скулкин // Вестник Поволжского государственного технологического университета. Сер.: Радиотехнические и инфокоммуникационные системы, 2014,N № 2 (21).-С.75-83
|
>5.
| Грибин А.А. Разработка Вариконда на основе пленок BATIO3 и SPTIO3 методом ВЧ магнетронного распыления/А. А. Грибин // Промышленная безопасность. -Йошкар-Ола:МарГТУ, 2011.-С.133-134
|
>6.
| Миттра Р. Критический взгляд на метаматериалы/Р.Митта // Радиотехника и электроника, 2007,N Т.5.-С.9.-С.1051-1058.-Библиогр.:12 назв.
|
>7.
| Битюков В.К. Бесконтактное измерение температуры диэлектриков и полупроводников[Текст]/В.К.Битюков, В.А.Петров // Микроэлектроника, 2004,N Т.3.-С.№6.-С.403-418.-Библиогр.: с.417-418
|
>8.
| Климов А. Знакомьтесь -электреты!/А.Климов // Радиомир, 2003,N N6..-С..37
|
>9.
| Костюков Н.С. Поляризационные процессы в воде/Костюков Н.С., Банышева В.В. // Электричество, 2001,N N11.-С..66-69.-Библиогр.:11 назв.
|
>10.
| Мордвинцев В.М. Методика контроля процесса травления нанометрового слоя диэлектрика in situ путем измерения адмитанса системы/Мордвинцев В.М., Шумилова Т.К. // Микроэлектроника, 1999,N Т.2.-С.2.-С.136-147
|
|
|