Поисковый запрос: (<.>K=БИС<.>) |
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 22 |
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Бегер Е.
Заглавие : Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : Электронные компоненты. - 2009. - N1. - С. 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--печатные платы(проектирование)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бергер Е.
Заглавие : Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : СHIP NEWS. - 2008. - N10. - С. .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--печатные платы(изготовление)--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049.77
Автор(ы) : Передреева М. А. (Преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Проблема согласования усадочных свойств металлизационного слоя и подложки при производстве металлокерамических плат
Место публикации : Вестник МарГТУ. - 2008. - N2. - С. 68-75.-Библиогр.:6 назв.
УДК : 621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--платы(проектирование)--металл-изолятор-металл
Экземпляры :чз N1;нчз(1)
Свободны : чз N1;нчз(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049.77
Автор(ы) : Павлов Е. П. (Преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе
Место публикации : Вестник МарГТУ. - 2008. - N1. - С. 77-82.-Библиогр.:2 назв.
УДК : 621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--интегральные микросхемы(изготовление,контроль техпроцессов)--схемотехническое проектирование микроэлектронных устройств(п
Экземпляры :чз N1;нчз(1)
Свободны : чз N1;нчз(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Павлов Е. П. (преподаватель МарГТУ)
Заглавие : Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе
Место публикации : Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 1. - С. 77-82.-Библиогр.:2 назв. - (Электроника)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--технологии микросистемной техники--надежность полупроводниковых изделий(оценка)--интегральные микросхемы(изготовление, контроль техпроцессов)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Снитовский Ю.П.
Заглавие : Новая технология изготовления мощного биполярного СВЧ транзистора. Физическое моделирование
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 6.-С.465-471.-Библиогр.:13 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биполярные транзисторы--транзисторы биполярные--конструирование подложек бис--свч-транзисторы(выбор)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.786.23
Автор(ы) : Виноградов А. Л., Коломиец О. М., Федоров С.Ю.
Заглавие : Лазерный датчик положения на основе БИС относительных перемещений
Место публикации : Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - С. 43-46.Библиогр.:6 назв
УДК : 681.786.23
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчики положения--датчики(применение)--бис
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 519.92
Автор(ы) : Кобяк И.П.
Заглавие : Принцип включения и исключения в задаче проектирования схем встроенного контроля БИС и СБИС[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.3. - С. N2.- С.139-149.-Библиогр.: 8 назв. - (Схемотехника)
УДК : 519.92
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--проектирование рэа(с использованием плис)--схемотехническое проектирование микроэлектронных устройств(п--сбис(новые технологии)
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 004.6
Автор(ы) : Антимиров В.М., Ачкасов В.Н., Фортинский Ю.К.
Заглавие : Комплексная автоматизация разработки, производства и испытания вычислительных комплексов для систем управления двойного назначения[Текст]
Место публикации : Приводная техника. - 2005. - N2. - С. 56-59. - (Новые исследования и разработки)
УДК : 004.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--большие интегральные схемы(обзор, технологии)--комплексы информационно-вычислительные(программное обеспечение--система управления(многокомандная)--системы управления(гражданского и военного назначения)
Аннотация: Возможность применения вычислительных комплексов космических летательных аппаратов в атомных электростанциях, ядерных реакторах, химических производствах, проведения научных исследований
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
11.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.822
Автор(ы) : Строгонов А.В.
Заглавие : Долговечность сумикронных БИС и ПЛИС[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2005. - Т.3. - С. N2.-С.138-158. - (Схемотехника)
УДК : 621.382.822
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): большие интегральные схемы(обзор,технологии)--плис(история развитие,применение)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
12.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бобков С., Трепалин А.
Заглавие : Компиляторы памяти в проектировании систем на кристалле[Текст]
Место публикации : CHIP NEWS. - 2004. - №4. - С. 14-25. - (Системы на кристалле)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кмпо бис (проектирование)--кмоп-схемы--проектирование печатных плат
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
13.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.771.15
Автор(ы) : Строганов А.
Заглавие : Проектирование топологии заказных КМОП БИС
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2003. - №2. - С. 5-13. - (Средства проектирования)
Примечания : Библиогр.: с. 13 (5 назв.)
УДК : 621.3.049.771.15
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы--бис--микросхемы интегральные
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
14.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.395.34
Автор(ы) : Келин П.
Заглавие : Построение ИКМ коммутаторов с памятью
Место публикации : CHIP NEWS. - 2003. - N6. - С. 9-13
УДК : 621.395.34
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): большие интегральные схемы (обзор, технологии)--бис--атс--коммутатор (с памятью)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
15.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 004-312
Автор(ы) : Кристовский Г.В., Погребной Ю.Л.
Заглавие : Методика разработки КМОП БИС с малыми логическими перепадами
Место публикации : Зарубежная радиоэлектроника. Успехи современной радиоэлектроники. - 2002. - N7. - С. 25-35.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 004-312
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): разработка кмоп бис(с малыми логическими перепадами)--кмпо бис(проектирование)--транзисторы проходные(для реализации логических функций)--дифференциальный усилитель--дифференциальные сигналы--буферные элементы--кмоп-технологии
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
16.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049.77
Автор(ы) : Скворцов А.М.
Заглавие : Конструирование подложек БИС
Место публикации : Известия вузов. Приборостроение. - 2002. - Т.4. - С. 4.-С.57-63. - (Технология приборостроения)
УДК : 621.382.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): подложки бис(конструирование)--бис--конструирование подложек бис--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
17.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Бараненков И.В., Агеев Р.Н.
Заглавие : Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами
Место публикации : Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - С. 153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): производство сбис--очистка поверхности кремниевых пластин--жидкостная химическая очистка(производство бис)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
18.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Дмитриев Д.П., Крылов С.М.
Заглавие : БИС дискретно-аналогового процессора
Место публикации : Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - С. 153).-С.32-36.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дискретно-аналоговый процессор(архитектура бис)--архитектура бис-процессора
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
19.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Адонин А.
Заглавие : Новые возможности технологии БИС со структурой "кремний на сапфире"
Место публикации : Электронные компоненты. - 2000. - N3. - С. 45-51
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): "кремний на сапфире"(структура)--микроэлектронное производство бис--бис
Аннотация: Новые технологии, БИС со структурой "кремний на сапфире"
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
20.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Кристовский В.Г.
Заглавие : Анализ влияния линий связи на характеристики микропроцессоров
Место публикации : Микроэлектроника. - 2005. - Т.3. - С. 1.-С.72-76.-Библиогр.: с.76. - (Схемотехника)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): связанные линии--бис--кмоп-технологии--микропроцессоры
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
21.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.374.5
Автор(ы) : Марцинкевичюс А., Повиляускас Д., Ясонис В.
Заглавие : Расчет переходных процессов в цепях интегральных аналого-цифровых преобразователей субнаносекундного диапазона
Место публикации : Микроэлектроника. - 2005. - Т.3. - С. 3.-С.225-240.-Библиогр.:21 назв. - (Схемотехника)
УДК : 621.374.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--аналого-цифровые преобразователи--диапазон частот--компараторы цифровые(обзор)
Аннотация: Математическая модель и методика расчета при конструировании аналогово-цифрового преобразователя очень высокой скорости, микроволнового диапазона.
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
22.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.7:669
Автор(ы) : Александров В.Д.
Заглавие : Газофазный метод осаждения покрытий из бис-ареновых соединений хрома на алюминиевые сплавы
Место публикации : Металловедение и термическая обработка металлов. - 2002. - N4. - С. 26-28.-Библиография:4 назв.
УДК : 621.7:669
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): алюминиевые сплавы(упрочнение,хром.конденсаты)--осаждение покрытий--пиролиз
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный