Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (36)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=БИС<.>)
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-22 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Адонин А.
Заглавие : Новые возможности технологии БИС со структурой "кремний на сапфире"
Место публикации : Электронные компоненты. - 2000. - N3. - С. 45-51
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): "кремний на сапфире"(структура)--микроэлектронное производство бис--бис
Аннотация: Новые технологии, БИС со структурой "кремний на сапфире"
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.7:669
Автор(ы) : Александров В.Д.
Заглавие : Газофазный метод осаждения покрытий из бис-ареновых соединений хрома на алюминиевые сплавы
Место публикации : Металловедение и термическая обработка металлов. - 2002. - N4. - С. 26-28.-Библиография:4 назв.
УДК : 621.7:669
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): алюминиевые сплавы(упрочнение,хром.конденсаты)--осаждение покрытий--пиролиз
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 004.6
Автор(ы) : Антимиров В.М., Ачкасов В.Н., Фортинский Ю.К.
Заглавие : Комплексная автоматизация разработки, производства и испытания вычислительных комплексов для систем управления двойного назначения[Текст]
Место публикации : Приводная техника. - 2005. - N2. - С. 56-59. - (Новые исследования и разработки)
УДК : 004.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бис--большие интегральные схемы(обзор, технологии)--комплексы информационно-вычислительные(программное обеспечение--система управления(многокомандная)--системы управления(гражданского и военного назначения)
Аннотация: Возможность применения вычислительных комплексов космических летательных аппаратов в атомных электростанциях, ядерных реакторах, химических производствах, проведения научных исследований
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Бараненков И.В., Агеев Р.Н.
Заглавие : Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами
Место публикации : Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - С. 153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): производство сбис--очистка поверхности кремниевых пластин--жидкостная химическая очистка(производство бис)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.049
Автор(ы) : Бегер Е.
Заглавие : Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : Электронные компоненты. - 2009. - N1. - С. 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382.049
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--печатные платы(проектирование)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бергер Е.
Заглавие : Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования
Место публикации : СHIP NEWS. - 2008. - N10. - С. .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--контроль качества электроники--печатные платы(изготовление)--дефектообразование в подложках бис
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Бобков С., Трепалин А.
Заглавие : Компиляторы памяти в проектировании систем на кристалле[Текст]
Место публикации : CHIP NEWS. - 2004. - №4. - С. 14-25. - (Системы на кристалле)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кмпо бис (проектирование)--кмоп-схемы--проектирование печатных плат
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.786.23
Автор(ы) : Виноградов А. Л., Коломиец О. М., Федоров С.Ю.
Заглавие : Лазерный датчик положения на основе БИС относительных перемещений
Место публикации : Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - С. 43-46.Библиогр.:6 назв
УДК : 681.786.23
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчики положения--датчики(применение)--бис
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Дмитриев Д.П., Крылов С.М.
Заглавие : БИС дискретно-аналогового процессора
Место публикации : Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - С. 153).-С.32-36.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дискретно-аналоговый процессор(архитектура бис)--архитектура бис-процессора
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Заглавие : Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники
Место публикации : Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - С. 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефектообразование в подложках бис--полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие

 1-10    11-20   21-22 
 
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 62600
Число посетителей 568
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».