Поисковый запрос: (<.>K=БИС<.>) |
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Бегер, Е.
Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
2.
|
Бергер, Е.
Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС
Найти похожие
|
3.
|
Передреева, М. А. (Преподаватель МарГТУ).
Проблема согласования усадочных свойств металлизационного слоя и подложки при производстве металлокерамических плат [Текст] / М. А. Передреева, В. В. Егошин // Вестник МарГТУ. - 2008. - N2. - 68-75.-Библиогр.:6 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Платы(проектирование) -- Металл-изолятор-металл
Найти похожие
|
4.
|
Павлов, Е. П. (Преподаватель МарГТУ).
Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе [Текст] / Е. П. Павлов, М. С. Синельников // Вестник МарГТУ. - 2008. - N1. - 77-82.-Библиогр.:2 назв.
Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Интегральные микросхемы(изготовление,контроль техпроцессов) -- Схемотехническое проектирование микроэлектронных устройств(п
Найти похожие
|
5.
|
Павлов, Е. П. (преподаватель МарГТУ).
Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе [Текст] / Е. П. Павлов, М. С. Синельников // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 1. - 77-82.-Библиогр.:2 назв. - (Электроника)
Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Технологии микросистемной техники -- Надежность полупроводниковых изделий(оценка) -- Интегральные микросхемы(изготовление, контроль техпроцессов)
Найти похожие
|
6.
|
Снитовский, Ю. П.
Новая технология изготовления мощного биполярного СВЧ транзистора. Физическое моделирование [Текст] / Ю.П.Снитовский,В.В.Нелаев,В.А.Ефремов // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 6.-С.465-471.-Библиогр.:13 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Биполярные транзисторы -- Транзисторы биполярные -- Конструирование подложек БИС -- СВЧ-транзисторы(выбор)
Найти похожие
|
7.
|
Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)
Найти похожие
|
8.
|
Виноградов, А. Л.
Лазерный датчик положения на основе БИС относительных перемещений [Текст] / А. Л. Виноградов, О. М. Коломиец, С. Ю. Федоров // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - 43-46.Библиогр.:6 назв
Кл.слова (ненормированные):
Датчики положения -- Датчики(применение) -- БИС
Доп.точки доступа:
Коломиец, О. М.
Федоров, С.Ю.
Найти похожие
|
9.
|
Кобяк, И. П.
Принцип включения и исключения в задаче проектирования схем встроенного контроля БИС и СБИС[Текст] [Текст] / И.П.Кобяк // Микроэлектроника. - 2006. - Т.3. - N2.- С.139-149.-Библиогр.: 8 назв. - (Схемотехника)
Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Проектирование РЭА(с использованием ПЛИС) -- Схемотехническое проектирование микроэлектронных устройств(п -- СБИС(новые технологии)
Найти похожие
|
10.
|
Антимиров, В. М.
Комплексная автоматизация разработки, производства и испытания вычислительных комплексов для систем управления двойного назначения[Текст] [Текст] / В.М.Анитимиров, В.Н.Ачкасов, Ю.К.Фортинский // Приводная техника. - 2005. - N2. - С. 56-59. - (Новые исследования и разработки)
Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Большие интегральные схемы(обзор, технологии) -- Комплексы информационно-вычислительные(программное обеспечение -- Система управления(многокомандная) -- Системы управления(гражданского и военного назначения)
Аннотация: Возможность применения вычислительных комплексов космических летательных аппаратов в атомных электростанциях, ядерных реакторах, химических производствах, проведения научных исследований
Доп.точки доступа:
Ачкасов, В.Н.
Фортинский, Ю.К.
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный