Поисковый запрос: (<.>K=БИС<.>) |
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Адонин, А.
Новые возможности технологии БИС со структурой "кремний на сапфире" [Текст] / Адонин А. // Электронные компоненты. - 2000. - N3. - С. 45-51
Кл.слова (ненормированные):
"Кремний на сапфире"(структура) -- Микроэлектронное производство БИС -- БИС
Аннотация: Новые технологии, БИС со структурой "кремний на сапфире"
Найти похожие
|
2.
|
Александров, В. Д.
Газофазный метод осаждения покрытий из бис-ареновых соединений хрома на алюминиевые сплавы [Текст] / В.Д.Александров // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2002. - N4. - 26-28.-Библиография:4 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Алюминиевые сплавы(упрочнение,хром.конденсаты) -- Осаждение покрытий -- Пиролиз
Найти похожие
|
3.
|
Антимиров, В. М.
Комплексная автоматизация разработки, производства и испытания вычислительных комплексов для систем управления двойного назначения[Текст] [Текст] / В.М.Анитимиров, В.Н.Ачкасов, Ю.К.Фортинский // Приводная техника. - 2005. - N2. - С. 56-59. - (Новые исследования и разработки)
Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Большие интегральные схемы(обзор, технологии) -- Комплексы информационно-вычислительные(программное обеспечение -- Система управления(многокомандная) -- Системы управления(гражданского и военного назначения)
Аннотация: Возможность применения вычислительных комплексов космических летательных аппаратов в атомных электростанциях, ядерных реакторах, химических производствах, проведения научных исследований
Доп.точки доступа:
Ачкасов, В.Н.
Фортинский, Ю.К.
Найти похожие
|
4.
|
Бараненков, И. В.
Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами [Текст] / Бараненков И.В., Агеев Р.Н. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - 153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Производство СБИС -- Очистка поверхности кремниевых пластин -- Жидкостная химическая очистка(производство БИС)
Доп.точки доступа:
Агеев, Р.Н.
Найти похожие
|
5.
|
Бегер, Е.
Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий
Найти похожие
|
6.
|
Бергер, Е.
Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС
Найти похожие
|
7.
|
Бобков, С.
Компиляторы памяти в проектировании систем на кристалле[Текст] [Текст] / С.Бобков, А.Трепалин // CHIP NEWS. - 2004. - №4. - С. 14-25. - (Системы на кристалле)
Кл.слова (ненормированные):
КМПО БИС (проектирование) -- КМОП-схемы -- Проектирование печатных плат
Доп.точки доступа:
Трепалин, А.
Найти похожие
|
8.
|
Виноградов, А. Л.
Лазерный датчик положения на основе БИС относительных перемещений [Текст] / А. Л. Виноградов, О. М. Коломиец, С. Ю. Федоров // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - N 7. - 43-46.Библиогр.:6 назв
Кл.слова (ненормированные):
Датчики положения -- Датчики(применение) -- БИС
Доп.точки доступа:
Коломиец, О. М.
Федоров, С.Ю.
Найти похожие
|
9.
|
Дмитриев, Д. П.
БИС дискретно-аналогового процессора [Текст] / Дмитриев Д.П., Крылов С.М. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - 153).-С.32-36.-Библиогр.:9 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дискретно-аналоговый процессор(архитектура БИС) -- Архитектура БИС-процессора
Доп.точки доступа:
Крылов, С.М.
Найти похожие
|
10.
|
Жидкокристаллическая термография "горячих точек" в изделиях электронной техники [Текст] // Микроэлектроника. - 2007. - Т.3. - 6.-С.446-456.-Библиогр.:8 назв.
Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Полупроводниковые изделия(отжиг дефектов) -- Технологические процессы микроэлектроники(методы контроля)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный