Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книги (36)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=БИС<.>)
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-22 
1.


    Павлов, Е. П. (преподаватель МарГТУ).
    Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе [Текст] / Е. П. Павлов, М. С. Синельников // Вестник МарГТУ. Радиотехнические и инфокоммуникационные системы. - 2008. - N 1. - 77-82.-Библиогр.:2 назв. - (Электроника)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Технологии микросистемной техники -- Надежность полупроводниковых изделий(оценка) -- Интегральные микросхемы(изготовление, контроль техпроцессов)

Найти похожие

2.


    Павлов, Е. П. (Преподаватель МарГТУ).
    Управление технологической точностью выходных параметров больших гибридных интегральных схем в многооперационном технологическом процессе [Текст] / Е. П. Павлов, М. С. Синельников // Вестник МарГТУ. - 2008. - N1. - 77-82.-Библиогр.:2 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Интегральные микросхемы(изготовление,контроль техпроцессов) -- Схемотехническое проектирование микроэлектронных устройств(п

Найти похожие

3.


    Марцинкевичюс, А.
    Расчет переходных процессов в цепях интегральных аналого-цифровых преобразователей субнаносекундного диапазона [Текст] / А.Марцинкевичюс, Д.Повиляускас, В.Ясонис // Микроэлектроника. - 2005. - Т.3. - 3.-С.225-240.-Библиогр.:21 назв. - (Схемотехника)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Аналого-цифровые преобразователи -- Диапазон частот -- Компараторы цифровые(обзор)
Аннотация: Математическая модель и методика расчета при конструировании аналогово-цифрового преобразователя очень высокой скорости, микроволнового диапазона.
Доп.точки доступа:
Повиляускас, Д.
Ясонис, В.


Найти похожие

4.


    Строганов, А.
    Проектирование топологии заказных КМОП БИС [Текст] / А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2003. - №2. - С. 5-13. - (Средства проектирования). - Библиогр.: с. 13 (5 назв.)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Интегральные схемы -- БИС -- Микросхемы интегральные

Найти похожие

5.


    Передреева, М. А. (Преподаватель МарГТУ).
    Проблема согласования усадочных свойств металлизационного слоя и подложки при производстве металлокерамических плат [Текст] / М. А. Передреева, В. В. Егошин // Вестник МарГТУ. - 2008. - N2. - 68-75.-Библиогр.:6 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Платы(проектирование) -- Металл-изолятор-металл

Найти похожие

6.


    Кобяк, И. П.
    Принцип включения и исключения в задаче проектирования схем встроенного контроля БИС и СБИС[Текст] [Текст] / И.П.Кобяк // Микроэлектроника. - 2006. - Т.3. - N2.- С.139-149.-Библиогр.: 8 назв. - (Схемотехника)
УДК

Кл.слова (ненормированные):
БИС -- Проектирование РЭА(с использованием ПЛИС) -- Схемотехническое проектирование микроэлектронных устройств(п -- СБИС(новые технологии)

Найти похожие

7.


    Бергер, Е.
    Предупреждение деформации печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // СHIP NEWS. - 2008. - N10. - .-С.44-48.-Библиогр.:7 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Качество полупроводниковых изделий -- Контроль качества электроники -- Печатные платы(изготовление) -- Дефектообразование в подложках БИС

Найти похожие

8.


    Бегер, Е.
    Практические способы уменьшения деформаций печатных плат на этапе конструирования [Текст] / Е.Бегер // Электронные компоненты. - 2009. - N1. - 116-119.-Библиогр.:7 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Дефектообразование в подложках БИС -- Печатные платы(проектирование) -- Контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические -- Качество полупроводниковых изделий

Найти похожие

9.


    Келин, П.
    Построение ИКМ коммутаторов с памятью [Текст] / Т.Келин,Д.Супонников // CHIP NEWS. - 2003. - N6. - С. 9-13
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Большие интегральные схемы (обзор, технологии) -- БИС -- АТС -- Коммутатор (с памятью)

Найти похожие

10.


    Бараненков, И. В.
    Оценка эффективности различных методов химической очистки поверхности кремниевых пластин при изготовлении ИС с субмикронными проектными нормами [Текст] / Бараненков И.В., Агеев Р.Н. // Электронная техника.Сер.3.Микроэлектроника. - 1999. - Вып. - 153).-С.41-48.-Библиогр.:14 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Производство СБИС -- Очистка поверхности кремниевых пластин -- Жидкостная химическая очистка(производство БИС)
Доп.точки доступа:
Агеев, Р.Н.


Найти похожие

 1-10    11-20   21-22 
 
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 49699
Число посетителей 568
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».