Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
 Найдено в других БД:Книги (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Строгонов, А. В.$<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


    Горлов, М. И.
    Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст] [Текст] / М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК
621.3.049.77.019.3

Кл.слова (ненормированные):
Транзисторы(проверка) -- Старение электронных изделий(закономерности) -- Контроль качества электроники -- Качество полупроводниковых изделий
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.
Смирнов, Д.Ю.


Найти похожие
2.


    Строгонов, А. В.
    Долговечность сумикронных БИС и ПЛИС[Текст] [Текст] / Строгонов, А.В. // Микроэлектроника. - 2005. - Т.3. - N2.-С.138-158. - (Схемотехника)
УДК
621.382.822

Кл.слова (ненормированные):
Большие интегральные схемы(обзор,технологии) -- ПЛИС(история развитие,применение)

Найти похожие
3.


    Горлов, М. И.
    Геронтология кремниевых интегральных схем [Текст] / Горлов М.И., Строгонов А.В. // Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
УДК
621.3.049.77.019.3

Кл.слова (ненормированные):
Кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности) -- Контроль качества электроники
Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем
Доп.точки доступа:
Строгонов, А.В.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 28.06.2024
Число запросов 83084
Число посетителей 770
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».