Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Книги (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Горлов, М. И.$<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - С. .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы(прогнозирование долговечности)--интегральные схемы(контроль качества, надежность)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :ЧЗN2(1)
Свободны : ЧЗN2(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М. И., Строгонов А.В., Смирнов Д.Ю.
Заглавие : Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - С. 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): транзисторы(проверка)--старение электронных изделий(закономерности)--контроль качества электроники--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Входной контроль полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2003. - Т.3. - С. 5.-С.391-400
УДК : 621.382:6211.317.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль изделий в электронной технике--полупроводниковые изделия--полупроводники входной контроль
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.002.2
Автор(ы) : Горлов М.И., Литвиненко Д.А.
Заглавие : Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв. - (Технологические процессы)
УДК : 621.38.002.2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--отжиг дефектов полупроводниковых приборов--дефекты радиационные и электростатические(п/п приборов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М.И., Строгонов А.В.
Заглавие : Геронтология кремниевых интегральных схем
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности)--контроль качества электроники
Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И., Коваленко П.Ю.
Заглавие : Технологические тренировки интегральных микросхем
Место публикации : Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - С. 5.-С.395-400.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.38.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные микросхемы(методы тренировки)--энергоциклирования режим(интегральных микросхем)--электротренировка интегральных микросхем
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Статическое электричество и полупроводниковая электроника[Текст]
Место публикации : Природа. - 2006. - N12. - С. С.27- 36. - Библиогр.: 6 назв.
УДК : 620
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковая электроника--статическое электричество
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие

 
Статистика
за 05.07.2024
Число запросов 27640
Число посетителей 593
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».