Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
 Найдено в других БД:Книги (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Горлов, М.$<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14
1.

Горлов М.И. Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей/М.И.Горлов,А.В.Строганов,А.В.Арсентьев // Успехи современной радиоэлектроники, 2008,N N12.-С..73-77.-Библиогр.:2 назв.
2.

Горлов М. Микроэлектронный датчик влажности/М.Горлов,Д.Ануфриев,Н.Шишкина // СHIP NEWS, 2007,N N4..-С.27-29.-Бибилогр.:11назв.
3.

Горлов М. И. Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]/М.И.Горлов, А.В.Строганов, Д.Ю.Смирнов // Микроэлектроника, 2006,N Т.5.-С.5.-С.392-400.
4.

Горлов М.И. Входной контроль полупроводниковых изделий/М.И.Горлов. А.В.Андреев // Микроэлектроника, 2003,N Т.3.-С.5.-С.391-400
5.

Горлов М.И. Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий/М.И.Горлов,Д.А.Литвиненко // Микроэлектроника, 2002,N Т.3.-С.5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв.
6.

Горлов М. Входной контроль полупроводниковых изделий/М.Горлов,А.Строгонов,А.Андреев // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2002,N N3.-С.40-46
7.

Горлов М. Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов/М.Горлов,А.Адамян,А.Каехтин // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2002,N №1.-С.48-51
8.

Тренировка изделий электронной техники и электронных блоков/М. Горлов и [др.] // CHIP NEWS, 2001,N N10.-С..40-45.-Библиогр.:11 назв.
9.

Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем/Горлов М.И., Строгонов А.В. // Микроэлектроника, 2001,N Т.3.-С.2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
10.

Горлов М. Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС/М.Горлов,Л.Ануфриев,А.Строгонов // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника, 2001,N N5.-С.22-26
11.

Горлов М. Воздействие электростатических разрядов на полупроводниковые изделия. Часть 2/М. Горлов, А. Строгонов, А. Адамян // CHIP NEWS, 2001,N N 2.-С.44-46
12.

Горлов М. Воздействие электростатических разрядов на полупроводниковые изделия/М.Горлов,А.Строгонов,А.Адамян // CHIP NEWS, 2001,N N1.-С.34-35
13.

Горлов М.И. Технологические тренировки интегральных микросхем/Горлов М.И., Коваленко П.Ю. // Микроэлектроника, 2000,N Т.2.-С.5.-С.395-400.-Библиогр.:7 назв.
14.

Горлов М.И. Статическое электричество и полупроводниковая электроника[Текст]/М.И.Горлов // Природа, 2006,N N12.-С. С.27- 36. - Библиогр.: 6 назв.
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 22.07.2024
Число запросов 71606
Число посетителей 491
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».