Поисковый запрос: (<.>A=Горлов, М.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М. И., Строгонов А.В., Смирнов Д.Ю.
Заглавие : Прогнозирование деградации транзисторов с использованием методов теории и анализа временных рядов[Текст]
Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.5. - С. 5.-С.392-400. - (Схемотехника)
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): транзисторы(проверка)--старение электронных изделий(закономерности)--контроль качества электроники--качество полупроводниковых изделий
Экземпляры :ЧЗ N2(1)
Свободны : ЧЗ N2(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Горлов М., Строгонов А., Адамян А.
Заглавие : Воздействие электростатических разрядов на полупроводниковые изделия. Часть 2
Место публикации : CHIP NEWS. - 2001. - N 2. - С. 44-46. - (В помощь разработчику)
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия(защита)--электростатические разряды(воздействие на элементы рэа)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38:621.3
Автор(ы) : Горлов М., Строгонов А., Адамян А.
Заглавие : Воздействие электростатических разрядов на полупроводниковые изделия
Место публикации : CHIP NEWS. - 2001. - N1. - С. 34-35. - (В помощь разработчику)
УДК : 621.38:621.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия (воздействие электростатических разрядов)--электростатических разрядов воздействие (на полупроводниковые приборы)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Горлов М., Строгонов А., Андреев А.
Заглавие : Входной контроль полупроводниковых изделий
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N3. - С. 40-46. - (Надежность)
Примечания : Библиогр.: с. 46 (10 назв.)
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия (входной контроль)--контроль входной (полупроводниковых изделий)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Горлов М., Адамян А., Каехтин А.
Заглавие : Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 48-51. - (Надежность)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия (контроль качества, надежность)--надежность полупроводниковых изделий (оценка)--контроль качества полупроводниковых изделий (диагностические методы)--диоды (контроль качества, надежность)--транзисторы (контроль качества, надежность)--интегральные схемы (контроль качества, надежность)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Входной контроль полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2003. - Т.3. - С. 5.-С.391-400
УДК : 621.382:6211.317.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль изделий в электронной технике--полупроводниковые изделия--полупроводники входной контроль
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М.И., Строгонов А.В.
Заглавие : Геронтология кремниевых интегральных схем
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности)--контроль качества электроники
Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.002.2
Автор(ы) : Горлов М.И., Литвиненко Д.А.
Заглавие : Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв. - (Технологические процессы)
УДК : 621.38.002.2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--отжиг дефектов полупроводниковых приборов--дефекты радиационные и электростатические(п/п приборов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - С. .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы(прогнозирование долговечности)--интегральные схемы(контроль качества, надежность)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :ЧЗN2(1)
Свободны : ЧЗN2(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Статическое электричество и полупроводниковая электроника[Текст]
Место публикации : Природа. - 2006. - N12. - С. С.27- 36. - Библиогр.: 6 назв.
УДК : 620
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковая электроника--статическое электричество
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный