Поисковый запрос: (<.>A=Горлов, М.$<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38
Автор(ы) : Горлов М., Адамян А., Ануфриев Л., Емельянов В., Строгонов А.
Заглавие : Тренировка изделий электронной техники и электронных блоков
Место публикации : CHIP NEWS. - 2001. - N10. - С. .40-45.-Библиогр.:11 назв. - (Надежность)
УДК : 621.38
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная техника(испытания, тренировка)--испытания электронной техники(отбраковочные)--электронные блоки(испытания, тренировка)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.049.77
Автор(ы) : Горлов М., Ануфриев Л., Строгонов А.
Заглавие : Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2001. - N5. - С. 22-26
УДК : 621.38.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы (надежность, испытания)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 681.5
Автор(ы) : Горлов М., Ануфриев Д., Шишкина Н.
Заглавие : Микроэлектронный датчик влажности
Место публикации : СHIP NEWS. - 2007. - N4. - С. 27-29.-Бибилогр.:11назв.
УДК : 681.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчики влажности--влагозащита--надежность рэа(расчет)--контроль качества электроники--датчики(применение)
Экземпляры :чз N2(1)
Свободны : чз N2(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И., Коваленко П.Ю.
Заглавие : Технологические тренировки интегральных микросхем
Место публикации : Микроэлектроника. - 2000. - Т.2. - С. 5.-С.395-400.-Библиогр.:7 назв.
УДК : 621.38.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные микросхемы(методы тренировки)--энергоциклирования режим(интегральных микросхем)--электротренировка интегральных микросхем
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Статическое электричество и полупроводниковая электроника[Текст]
Место публикации : Природа. - 2006. - N12. - С. С.27- 36. - Библиогр.: 6 назв.
УДК : 620
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковая электроника--статическое электричество
Экземпляры :НЧЗ(1)
Свободны : НЧЗ(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Прогнозирование процесса деградации технических характеристик ИС методом окон с использованием нейронных сетей
Место публикации : Успехи современной радиоэлектроники. - 2008. - N12. - С. .73-77.-Библиогр.:2 назв.
УДК : 621.3.049.77
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы(прогнозирование долговечности)--интегральные схемы(контроль качества, надежность)--контроль качества полупроводниковых изделий(диагностические
Экземпляры :ЧЗN2(1)
Свободны : ЧЗN2(1)
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.38.002.2
Автор(ы) : Горлов М.И., Литвиненко Д.А.
Заглавие : Отжиг радиационных и электростатических дефектов полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2002. - Т.3. - С. 5.-С.350-360.-Библиогр.:18 назв. - (Технологические процессы)
УДК : 621.38.002.2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия(отжиг дефектов)--отжиг дефектов полупроводниковых приборов--дефекты радиационные и электростатические(п/п приборов)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М.И., Строгонов А.В.
Заглавие : Геронтология кремниевых интегральных схем
Место публикации : Микроэлектроника. - 2001. - Т.3. - С. 2.-С.147-160.-Библиогр.:9 назв.
УДК : 621.3.049.77.019.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевые интегральные схемы(проблема долговечности)--контроль качества электроники
Аннотация: Геронтология-долговечность интегральных схем
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Горлов М.И.
Заглавие : Входной контроль полупроводниковых изделий
Место публикации : Микроэлектроника. - 2003. - Т.3. - С. 5.-С.391-400
УДК : 621.382:6211.317.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль изделий в электронной технике--полупроводниковые изделия--полупроводники входной контроль
Экземпляры :чз№2(1)
Свободны : чз№2(1)
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382
Автор(ы) : Горлов М., Адамян А., Каехтин А.
Заглавие : Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов
Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 48-51. - (Надежность)
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия (контроль качества, надежность)--надежность полупроводниковых изделий (оценка)--контроль качества полупроводниковых изделий (диагностические методы)--диоды (контроль качества, надежность)--транзисторы (контроль качества, надежность)--интегральные схемы (контроль качества, надежность)
Экземпляры :чзN2(1)
Свободны : чзN2(1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный