Р 49 Рид, С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Дж. Б. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петрова, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с. : ил., цв.ил., 4 л. цв. ил. - (Мир наук о Земле). - ISBN 978-5-94836-177-2 : 636.68 р.
Кл.слова (ненормированные): ГЕОЛОГИЯ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеновские спектрометры -- РАСТРОВАЯ электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- ЭЛЕКТРОННЫЕ Линзы -- электронные микрозонды -- СПЕКТРОМЕТРЫ рентгеновские -- МИКРОСКОПЫ оптические Доп.точки доступа: Петров, Д. Б. \пер.\ Романенко, И. М. \пер.\ Ревенко, В. А. \пер.\ Экземпляры всего: 3 абунл (2), кнхр (1) Свободны: абунл (2), кнхр (1) |
С 38 Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2006. - 249 c. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-064-4 : 241.00 р.
Кл.слова (ненормированные): Электронные микроскопы -- Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо Экземпляры всего: 1 чз№2 (1) Свободны: чз№2 (1) |