Кларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц. Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера Кл.слова (ненормированные): акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам. Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024 Доп.точки доступа: Эберхард, К. Н. |
Р 49 Рид, С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Дж. Б. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петрова, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с. : ил., цв.ил., 4 л. цв. ил. - (Мир наук о Земле). - ISBN 978-5-94836-177-2 : 636.68 р.
Кл.слова (ненормированные): ГЕОЛОГИЯ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеновские спектрометры -- РАСТРОВАЯ электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- ЭЛЕКТРОННЫЕ Линзы -- электронные микрозонды -- СПЕКТРОМЕТРЫ рентгеновские -- МИКРОСКОПЫ оптические Доп.точки доступа: Петров, Д. Б. \пер.\ Романенко, И. М. \пер.\ Ревенко, В. А. \пер.\ Экземпляры всего: 3 абунл (2), кнхр (1) Свободны: абунл (2), кнхр (1) |