Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Найдено в других БД:

Статьи (3)

Полные тексты изданий ПГТУ (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая<.>)

Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 12

Мирошников, М. М.
Теоретические основы оптико-электронных приборов [Электронный ресурс] / М. М. Мирошников. - 3-е изд., испр. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 704 с. - ISBN 978-5-8114-1036-1 : Б. ц.

Кл.слова (ненормированные):
тепловидение -- иконика -- восприятие и анализ изображений -- пассивные оптико-электронные приборы -- оптические приборы -- учебные пособия -- теория выделения оптического сигнала -- теория растровой модуляции света -- теория сканирования -- анализатор растровый -- видикон -- ганкеля преобразование -- диссектор -- зеркало сканирующее -- квантовые приборы -- котельникова теорема -- оптика -- оптика (физика) -- оптико-электронные приборы -- оптоэлектроника -- оптоэлектроника (основы) -- оптоэлектронные приборы -- парсеваля теорема -- пирамида сканирующая -- помехи -- приборы оптоэлектронные -- призма сканирующая -- растровая модуляция -- сигнал -- сигнал спектр -- сигналы -- сигналы в оптоэлектронных приборах -- сканирование -- физика (оптика) -- фильтр -- фильтр оптимальный -- фильтр электрический -- фурье спектр -- хинчина - винера спектр -- шум -- шумы -- шумы в оптоэлектронных приборах -- электроника -- эбс лань
Аннотация: Главной целью учебного пособия является последовательное изложение теоретических основ пассивных оптико-электронных приборов, т. е. приборов, воспринимающих либо собственное излучение объектов и фонов, либо отраженное ими излучение естественных источников. Основными разделами книги являются сканирование, растровая модуляция излучения, выделение оптического сигнала на фоне случайных помех. Рассмотрены вопросы восприятия и анализа изображений. Отдельный раздел посвящен тепловидению и иконике. Учебное пособие предназначено для студентов технических вузов.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Найти похожие

   681.7
   П 53


    Получение виртуального изображения сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и оценка его информативности [Электронный ресурс] : метод. указания к выполнению лаб. работы / ГОУ ВПО "Мар. гос. техн. ун-т" ; [сост. : В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2011. - 40 с. : ил. - 11.40 р.

29.35.43
УДК	537.533.35(07)	621.385.833(07)	681.723(07)

Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- NANOEDUCATOR -- МИКРОСКОПЫ
Перейти к внешнему ресурсу Получение виртуального изображения сканирующей зондовой микроскопии и оценка его информативности.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\
Сушенцов, Николай Иванович \сост.\

Экземпляры всего: 54
чз№2 (16), абунл (38)
Свободны: чз№2 (16), абунл (38)

Найти похожие

RU-LAN-BOOK-73017

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки

УДК

537.533.35

ББК В338.4

Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера

Кл.слова (ненормированные):
акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.

Найти похожие

   53
   И 88


    Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии [Текст] : методические указания к выполнению лабораторной работы : [для студентов направлений подготовки 11.03.01, 11.03.02, 11.03.03, 11.03.04, 12.03.04, 27.03.04, 27.03.02] / М-во образования и науки Рос. Федерации, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т" ; [сост. В. Е. Филимонов]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2016. - 28 с. : ил. - Библиогр.: с. 28 (4 назв.). - 13.00 р., 12.86 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	539.2(07)	537.533.35(07)	543.42(07)	543.456(07)

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ -- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- МИКРОСКОПЫ -- АТОМНО-СИЛОВЫЕ микроскопы -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- спектроскопия -- нанотехнологии -- NANOEDUCATOR (ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП) -- ТВЕРДОЕ ТЕЛО
Перейти к внешнему ресурсу Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\

Экземпляры всего: 43
чз№2 (2), абунл (41)
Свободны: чз№2 (2), абунл (41)

Найти похожие

   53
   И 88


    Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии [Электронный ресурс] : методические указания к выполнению лабораторной работы : [для студентов направлений подготовки 201000, 210100, 210400, 210700, 211000, 220400, 221400] / М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т" ; [сост.: В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов]. - Йошкар-Ола : [ПГТУ], 2014. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 42 (5 назв.). - 13.78 р., 13.62 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	53.087.22(07)	537.533.35(07)

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ (физика) -- ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЯ туннельная -- МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- МИКРОСКОПЫ -- ТУННЕЛЬНые микроскопы -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Перейти к внешнему ресурсу Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\
Сушенцов, Николай Иванович \сост.\

Экземпляры всего: 45
чз№2 (6), абунл (39)
Свободны: чз№2 (6), абунл (39)

Найти похожие

   681.7
   П 53


    Получение первого изображения сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и обработка результатов эксперимента [Электронный ресурс] : методические указания к выполнению лабораторной работы / М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т" ; [сост. В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2013. - 47 с. : рис. - 11.14 р., 11.39 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	681.723(07)	621.385.833(07)	537.533.35(07)

Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- ГРИФ РИС ПГТУ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- сканирующие зондовые микроскопы -- цифровые видеомикроскопы -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ -- ЗОНДОВЫЕ МИКРОСКОПЫ -- ВИДЕОМИКРОСКОПЫ -- ОБРАБОТКА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫх ДАННЫХ -- NanoEducator (зондовый микроскоп)
Перейти к внешнему ресурсу Получение первого изображения сканирующей зондовой микроскопии и обработка результатов эксперимента.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\
Сушенцов, Николай Иванович \сост.\

Экземпляры всего: 50
абунл (43), кнхр (1), чз№2 (6)
Свободны: абунл (43), кнхр (1), чз№2 (6)

Найти похожие

   621.382
   Ф 53

    Филимонов, Виталий Евгеньевич.
    Технология очистки подложек микро- и наноэлектроники [Текст : Электронный ресурс] : [учеб. пособие для студентов вузов по направлениям подгот. 211000 "Конструирование и технология электрон. средств", 210100 "Электроника и наноэлектроника"] / В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов ; М-во образования и науки РФ, ГОУ ВПО "Мар. гос. техн. ун-т". - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2011. - 159 с. : ил. - ISBN 978-5-8158-0867-6 : 46.82 р., 47.37 р.

ГРНТИ	47.33.31
УДК	621.382.049.77(075.8)	621.382-022.532(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
ГРИФ УМО ВУЗОВ РФ ПО ОБРАЗОВАНИЮ В ОБЛАСТИ РАДИОТЕХНИКИ, ЭЛЕКТРОНИКИ, БИОМЕДИЦИНСКОЙ ТЕХНИКИ И АВТОМАТИЗАЦИИ -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- подложки (электронная техника) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- ВАКУУМНАЯ ТЕХНИКА -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТРАВЛЕНИЕ химическое -- ОЧИСТКА подложек
Перейти к внешнему ресурсу Технология очистки подложек микро- и наноэлектроники.

Доп.точки доступа:
Сушенцов, Николай Иванович

Экземпляры всего: 71
чз№2 (5), абунл (66)
Свободны: чз№2 (5), абунл (66)

Найти похожие

   620.3
   Г 60

    Головин, Юрий Иванович.
    Наномир без формул [Текст] / Ю. И. Головин ; под ред. Л. Н. Патрикеева. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 543 с. : ил. - ISBN 978-5-9963-0292-5 : 630.00 р.

81.13.01
УДК	620.3(075)

Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- УЧЕБНЫЕ ИЗДАНИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- наночастицы -- нанопорошки -- ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ НАНОСТРУКТУРЫ -- наноэлектроника -- нанотехника -- наноприборы -- нанобиотехнология -- наномедицина -- наноэтика -- нанонаука
Доп.точки доступа:
Патрикеев, Л. Н. \ред.\

Экземпляры всего: 2
чз№2 (1), кнхр (1)
Свободны: чз№2 (1), кнхр (1)

Найти похожие

   620.3(03)
   С 74

    Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова ; ФГУ Научно-производств. комплекс "Технол. центр" Моск. гос. ин-та электрон. техники. - М. : Техносфера, 2010 - . - (Мир материалов и технологий).
   Т. 2. - 2010. - 1039 с. : ил. - ISBN 978-5-94836-263-2 : 1315.30 р.

81.13.01
УДК	620.3(03)

Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- СПРАВОЧНИКИ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- микроскопы -- АТОМНАЯ силовая микроскопия -- НАНОмеханика -- НАНОТРИБОЛОГИЯ -- БИОЛОГИЧЕСКая НАНОТЕХНОЛОГИя -- НАНОСТРУКТУРЫ -- нанореология
Доп.точки доступа:
Бхушан, Б. \ред.\
Сауров, А. Н. \пер.\

Экземпляры всего: 5
чз№2 (1), абунл (3), кнхр (1)
Свободны: чз№2 (1), абунл (3), кнхр (1)

Найти похожие

10.

   57
   Н 80

    Нолтинг, Б.
    Новейшие методы исследования биосистем [Текст] / Б. Нолтинг ; пер. с англ. Н. Н. Хромова-Борисова. - М. : Техносфера, 2005. - 254 c. : ил. - (Мир биологии и медицины). - ISBN 5-94836-044-X : 175.00 р.

76.01.21	34.05.17
УДК	57.08	61:001.89

Рубрики: Биология

Россия
Кл.слова (ненормированные):
БИОЛОГИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- СПЕКТРОМЕТРИЯ -- Протеомика -- Микроскопия -- Белковая инженерия -- Биосистемы -- ИК-спектроскопия -- Микрочипы -- Нейронные сети -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ХРОМОТОГРАФИЯ -- МЕДИЦИНА
Доп.точки доступа:
Хромов-Борисов, Н. Н. \пер.\

Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

11.

   681.7
   М 64

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов. - М. : Техносфера, 2004. - 143 c. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 5-94836-034-2 : 209.00:207.00 р.

29.31.29
УДК	681.723(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
Сканирующая зондовая микроскопия -- Учебные пособия
Экземпляры всего: 5
абунл (4), кнхр (1)
Свободны: абунл (4), кнхр (1)

Найти похожие

12.

   53
   Р 94

    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика" / С. А. Рыков ; ред.: В. И. Ильин, А. Я. Шик ; Федер. целевая программа "Гос. поддержка интеграции высш. образования и фундам. науки на 1997-2000 годы". - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 c. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - ISBN 5-02-024956-4 : 10.00 р.

29.19.43
УДК	537.311.322(075.8)	537.533.35(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
Наноструктуры (микроскопия) -- Полупроводниковые материалы (микроскопия) -- Сканирующая зондовая микроскопия -- Учебные пособия
Доп.точки доступа:
Ильин, В. И. \ред.\
Шик, А. Я. \ред.\

Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 29.05.2024
Число запросов	2705
Число посетителей	717
Число заказов	0