Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=оптика (исследования)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
RU-LAN-BOOK-73017

    Кларк, Э. Р.
    Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
УДК
ББК В338.4

Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера

Кл.слова (ненормированные):
акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.


Найти похожие

 
Статистика
за 29.05.2024
Число запросов 5189
Число посетителей 799
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».